Синхротрон
Контакты
124460, г. Москва, г. Зеленоград, ул. Конструктора Гуськова, д. 5, стр. 1
+7 (499) 214 01 14

ЦКП «Синхротрон» ФГУП «НИИФП им. Ф.В. Лукина» выполняет фундаментальные и прикладные исследования, координирует научно-методическую работу, оказывает услуги и обеспечивает проведение НИР и ОКР в рамках региональных, федерально-целевых и международных программ в соответствии с приоритетными направлениями развития науки и техники в области наноэлектроники.

Оборудование

Аналитико-технологический модуль вторично-ионной масс-спектроскопии и наноэлектронной имплантации
Аналитико-технологический модуль вторично-ионной масс-спектроскопии и наноэлектронной имплантации
Аналитико-технологический модуль вторично-ионной масс-спектроскопии и наноэлектронной имплантации
Аналитико-технологический модуль вторично-ионной масс-спектроскопии и наноэлектронной имплантации
Назначение:
Исследование элементного состава поверхности и слоев, ионный литограф
Волнодисперсионный спектрометр
Волнодисперсионный спектрометр
Волнодисперсионный спектрометр
Волнодисперсионный спектрометр
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области волновой спектрометрии.
Вторично-ионный масс-спектрометр ионный зонд
Вторично-ионный масс-спектрометр ионный зонд
Вторично-ионный масс-спектрометр ионный зонд
Вторично-ионный масс-спектрометр ионный зонд
Назначение:
Вторично-ионные масс-спектрометры для анализа поверхности.
Измеритель краевого угла смачивания
Измеритель краевого угла смачивания
Измеритель краевого угла смачивания
Измеритель краевого угла смачивания
Назначение:
Приборы и аппаратура для исследования и анализа поверхности.
ИК-Фурье спектрометр Spectrum 1000 (PerkinElmer)
ИК-Фурье спектрометр Spectrum 1000 (PerkinElmer)
ИК-Фурье спектрометр Spectrum 1000 (PerkinElmer)
ИК-Фурье спектрометр Spectrum 1000 (PerkinElmer)
Назначение:
ИК-Фурье спектрометр предназначен для проведения анализов в ИК области спектра для оценки подлинности органических и неорганических соединений, анализ состава смесей.
Оже электронный спектрометр PHI 660 (PerkinElmer)
Оже электронный спектрометр PHI 660 (PerkinElmer)
Оже электронный спектрометр PHI 660 (PerkinElmer)
Оже электронный спектрометр PHI 660 (PerkinElmer)
Назначение:
Анализатор типа «цилиндрическое зеркало» (АЦЗ) со встроенной электронной пушкой модель 25-120A
Просвечивающий аналитический 200 кВ электронный микроскоп Tecnai G2 20 (FEI)
Просвечивающий аналитический 200 кВ электронный микроскоп Tecnai G2 20 (FEI)
Просвечивающий аналитический 200 кВ электронный микроскоп Tecnai G2 20 (FEI)
Просвечивающий аналитический 200 кВ электронный микроскоп Tecnai G2 20 (FEI)
Назначение:
Технические характеристики: Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Профилометр Alpha-Step D200 (KLA-Tencor)
Профилометр Alpha-Step D200 (KLA-Tencor)
Профилометр Alpha-Step D200 (KLA-Tencor)
Профилометр Alpha-Step D200 (KLA-Tencor)
Назначение:
Обеспечивает измерения полного профиля в 800 микрометров (возможно опциональное увеличение до 1.2 мм), суб-ангстремное разрешение сканирования, повторяемость в измерении высоты в пределах 6 ангстрем, предметный стол с возможностью регулировки в трех плоскостях, а так же множество других полезных особенностей.
Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge)
Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge)
Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge)
Растровый электронный микроскоп CamScan-s4 (Cambridge)
Назначение:
Предназначен для исследования топографии и фазового состава поверхности объекта с разрешением не хуже 10 нм. Широкий диапазон ускоряющих напряжений (от 0.5 до 40 кэв.). На основе растрового электронного микроскопа «CAMSCAN-S4» создана измерительная система, допущенная к применению в качестве рабочего средства измерений в диапазоне 0.1 — 20.0 мкм с погрешностью не более 5 — 50 нм.
Сверхвысоковакуумный модуль сканирующего зондового микроскопа
Сверхвысоковакуумный модуль сканирующего зондового микроскопа
Сверхвысоковакуумный модуль сканирующего зондового микроскопа
Сверхвысоковакуумный модуль сканирующего зондового микроскопа
Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro-M (НТ-МДТ)
Сканирующий зондовый микроскоп Solver Pro-M (НТ-МДТ)
Назначение:
Интеграция методик атомно-силовой микроскопии (АСМ) с методикам спектроскопии комбинационного рассеяния. Установка предназначена для проведения исследования с нанометровым разрешением и предоставляет полную информацию о многочисленных поверхностных свойствах образца, таких как: рельеф, намагниченность, электрический потенциал и работа выхода, сила трения, пьезоотклик, упругость, емкость, ток растекания и многое другое.
Энергодисперсионная приставка
Энергодисперсионная приставка
Все оборудование