Структурная диагностика материалов ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Контакты
119333, г. Москва, Ленинский пр-т, д. 59
+7 (499) 135 61 20

ЦКП  специализируется на структурной диагностике широкого класса материалов, разрабатывает новые методы и экспериментальные методики. Центр выполняет заказы сторонних организаций по исследованию структуры различных материалов, ведет самостоятельные фундаментальные и прикладные исследования. ЦКП имеет опыт и выполняет заказы сторонних организаций на проведение работ на оборудовании Центра на договорной основе. Одним из важнейших аспектов деятельности Центра является метрологическое обеспечение имеющегося оборудования. Все приборы Центра ежегодно проходят калибровку и поверку.

Оборудование

Анализатор размера субмикронных частиц Delsa Nano (Beckman Coulter)
Анализатор размера субмикронных частиц Delsa Nano (Beckman Coulter)
Анализатор размера субмикронных частиц Delsa Nano (Beckman Coulter)
Анализатор размера субмикронных частиц Delsa Nano (Beckman Coulter)
Назначение:
Позволяет определять размеры частиц от 0,6 до 7000 нм в коллоидных растворах и измерять дзета-потенциал в диапазоне от -100 мВ до 100 мВ для частиц от 5 нм до 10 мкм.
Атомно-силовой микроскоп Solver Pro M (НТ-МДТ)
Атомно-силовой микроскоп Solver Pro M (НТ-МДТ)
Атомно-силовой микроскоп Solver Pro M (НТ-МДТ)
Атомно-силовой микроскоп Solver Pro M (НТ-МДТ)
Назначение:
Сканирующая головка может использоваться в конфигурации Stand-alone для измерения сверхбольших образцов (до 100 мм). Может использоваться для модифицирования поверхностей, манипуляции частицами до 50 нм в диаметре и литографии высокого разрешения (10 нм).
Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (FEI)
Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (FEI)
Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (FEI)
Высокоразрешающий автоэмиссионный растровый электронный микроскоп FEI Scios с ионной пушкой (FEI)
Назначение:
Позволяет исследовать морфологию поверхности образца с высоким разрешением (до 1 нм в электронном пучке и до 7 нм в ионном). Прекрасный инструмент для приготовления образцов для просвечивающей электронной микроскопии, резки и напыления материалов с помощью различных шаблонов с высоким разрешением. Обладает несколькими детекторами позволяющими получать прекрасный контраст на Ваших образцах.
Исследовательский комплекс NTEGRA prima (НТ-МДТ)
Исследовательский комплекс NTEGRA prima (НТ-МДТ)
Исследовательский комплекс NTEGRA prima (НТ-МДТ)
Исследовательский комплекс NTEGRA prima (НТ-МДТ)
Назначение:
Исследование пространственного распределения электрических, магнитных, механических, адгезионных свойств поверхности.
Комбинированный ТГ-ДСК анализатор STA 449 F1 Jupiter (NETZSCH)
Комбинированный ТГ-ДСК анализатор STA 449 F1 Jupiter (NETZSCH)
Комбинированный ТГ-ДСК анализатор STA 449 F1 Jupiter (NETZSCH)
Комбинированный ТГ-ДСК анализатор STA 449 F1 Jupiter (NETZSCH)
Назначение:
Сочетает методы дифференциальной сканирующей калориметрии и термогравиметрии в одном измерении.
Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT (FEI)
Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT (FEI)
Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT (FEI)
Криогенный просвечивающий электронный микроскоп Tecnai G2 SPIRIT (FEI)
Назначение:
Позволяет установить атомную и молекулярную структуру материалов с разрешением до 0,1 нм.
Масс-спектрометр на индуктивно связанной плазме ICapQ (Thermo Sientific)
Масс-спектрометр на индуктивно связанной плазме ICapQ (Thermo Sientific)
Масс-спектрометр на индуктивно связанной плазме ICapQ (Thermo Sientific)
Масс-спектрометр на индуктивно связанной плазме ICapQ (Thermo Sientific)
Назначение:
Предназначен для исследования элементного состава неорганических материалов
Нанотвердомер Nanoscan 3D (ТИСНУМ)
Нанотвердомер Nanoscan 3D (ТИСНУМ)
Нанотвердомер Nanoscan 3D (ТИСНУМ)
Нанотвердомер Nanoscan 3D (ТИСНУМ)
Назначение:
Предназначен для исследования физико-механических, трибологических и электрических свойств материалов на субмикронном и нанометровых масштабах.
Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600 (Rigaku)
Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600 (Rigaku)
Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600 (Rigaku)
Настольный рентгеновский дифрактометр Miniflex 600 (Rigaku)
Назначение:
Предназначен для проведения качественного и количественного фазового анализа поликристаллических материалов. Теперь MiniFlex доступен в двух модификациях. Благодаря мощности трубки 600 Вт, MiniFlex 600 становится вдвое мощнее других настольных моделей. Это позволяет проводить быстрее анализ и повысить общую производительность при проведении исследований.
Оптический лазерный конфокальный микроскоп Leica TCS SPE (Leica Microsystems)
Оптический лазерный конфокальный микроскоп Leica TCS SPE (Leica Microsystems)
Оптический лазерный конфокальный микроскоп Leica TCS SPE (Leica Microsystems)
Оптический лазерный конфокальный микроскоп Leica TCS SPE (Leica Microsystems)
Назначение:
Конфокальная лазерная микроскопия биологических объектов (исследования по визуализации и изучению структуры биологических микрокапсул).
Порошковый рентгеновский дифрактометр X’PERT PRO MPD (PANalytical)
Порошковый рентгеновский дифрактометр X’PERT PRO MPD (PANalytical)
Назначение:
Исследование атомной структуры кристаллов белков, поликристаллов, жидких кристаллов образцов малого объема и др.
Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris с X-FEG и SupreX детектором
Просвечивающий электронный микроскоп FEI Osiris с X-FEG и SupreX детектором
Назначение:
Cовременный просвечивающий электронный микроскоп с электронной пушкой XFEG, имеющий высокое разрешение до 0,12 нм в светлопольном режиме и до 0,18 нм в STEM-режиме, с новейшим сверхбыстрым и эффективным (в режиме реального времени) EDX-анализатором (Super-X SDD), с возможностью построением карт распределения элементов в образце с разрешением менее 1 нм.
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI)
Просвечивающий электронный микроскоп высокого разрешения Tecnai G30 STwin 300кВ Tecnai G30 ST 300кВ (FEI)
Назначение:
Исследование твердых тел с высоким (вплоть до атомного) пространственным разрешением. Разрешение по точкам 0,20 нм, информационный предел <0,15 нм, разрешение в режиме STEM-0,17 нм. Поворот образца на /-40°.
Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (FEI)
Растровый электронный микроскоп FEI Quanta 200 3D FIB с ионной пушкой (FEI)
Назначение:
Получение электронно-микроскопического изображения аморфных и кристаллических материалов. Подготовка образцов с помощью сфокусированного ионного пучка.
Растровый электронный микроскоп JSM-7401F с автоэмиссионным катодом (JEOL)
Растровый электронный микроскоп JSM-7401F с автоэмиссионным катодом (JEOL)
Назначение:
Исследование физических, химических, оптических и морфологических особенностей широкого спектра аморфных и кристаллических материалов с помощью тонко сфокусированного электронного пучка.
Рентгеновский дифрактометр SmartLab 9kW (Rigaku)
Рентгеновский дифрактометр SmartLab 9kW (Rigaku)
Назначение:
Изучение планарных тонкоплёночных систем, поликристаллов, монокристаллов с использованием методов стоячих рентгеновских волн, рефлектометрии, двух и многоволновой дифрактометрии, рентгенофазового и рентгенофлуоресцентного анализа.
Рентгеновский дифрактометр Xcalibur S™ (Oxford)
Рентгеновский дифрактометр Xcalibur S™ (Oxford)
Назначение:
Исследование атомной структуры монокристаллов в широком интервале температур и давлений.
Рентгеновский малоугловой дифрактометр SAXS-2D (HECUS X-ray system GmbH GRAZ) с двумя позиционно-чувствительными детекторами
Рентгеновский малоугловой дифрактометр SAXS-2D (HECUS X-ray system GmbH GRAZ) с двумя позиционно-чувствительными детекторами
Назначение:
Исследование надатомной структуры твердого тела, полимеров, жидкостей, мицелл, биологических макромолекул в растворе, полидисперсных материалов, сплавов, фрактальных систем и других наноматериалов.
Спектрофотометр Cary 5000 (Varian)
Спектрофотометр Cary 5000 (Varian)
Назначение:
Предназначен для измерения спектральных характеристик кристаллических материалов, включая нанокристаллы, биокристаллы, тонкие пленки, и изделий из них. Спектральный диапазон 175‑3300 нм.
Установка Novotherm-HT 1200 с измерителем импеданса Alpha-A ZG4 (NOVOCONTROL)
Установка Novotherm-HT 1200 с измерителем импеданса Alpha-A ZG4 (NOVOCONTROL)
Назначение:
Позволяет проводить измерения электрических характеристик образцов кристаллических либо аморфных материалов.
Установка молекулярно-лучевой эпитаксии Pfeiffer Vacuum
Установка молекулярно-лучевой эпитаксии Pfeiffer Vacuum
Назначение:
Исследования кинетики процессов зарождения, формирования и разложения моно- и поликристаллических пленок в условиях сверхвысокого вакуума
УФ-спектрофотометр Lambda 650 (Perkin Elmer)
УФ-спектрофотометр Lambda 650 (Perkin Elmer)
Назначение:
Спектрофотометр предназначен для измерения коэффициента пропускания твердых, жидких и газообразных проб животного и растительного происхождения.
Все оборудование