Назад к списку
Материаловедение и металлургия
Центры коллективного пользования
Контакты
119049, г. Москва, Ленинский пр-т, д. 4
+7 (495) 638 45 46

Научно-исследовательский центр материаловедческого профиля. Центр располагает уникальным комплексом современного аналитического оборудования, который предназначен для изучения элементного и фазового состава, структурного совершенства твердых тел, а также приповерхностных слоев и межфазных границ.

Методики

Совокупность опробованных и изученных методов и приемов для выполнения научного исследования.

  • Методика выполнения измерений молярных долей компонентов углерода с SP2 и SP3 -типом гибридизации.Метод количественного разделения SP2 и SP3 связанных атомов углерода в углеродных материалах со смешанным типом связей.
  • Методика определения химического состава катализатора в нанопористых каталитических мембранных материалах методом рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии.
  • Методика определения линейных размеров объектов методом растровой электронной микроскопии.
  • Методика приготовления образцов методом скола при низких температурах.
  • Методика определения элементного состава с помощью функции цифрового картирования элементов
  • Методика анализа структур термоэлектрических материалов по уширению дифракционных линий
  • Методика контроля однородности состава термоэлектрических материалов по параметру решетки с помощью рентгеновского дифрактометра
  • Методика оценки микронеоднородности состава по расщеплению Ka дублета дифракционных линий
  • Методика выполнения измерения химического состава оксидных наноразмерных структур.
  • Методика приготовления образцов ZrO2, легированных Y2O3 для исследования методом просвечивающей электронной микроскопии.
  • Методика выполнения измерений теплопроводности термоэлектрических материалов.
  • Методика выполнения измерений методом рентгеновской дифрактометрии. Фазовый анализ порошковых поликристаллических наноматериалов.
  • Методика выполнения измерений методом рентгеновской дифрактометрии. Определение толщины и концентрации Ge в гетероэпитаксиальной системе Si1-xGex/Si.
  • Методика изготовления микроманипуляторов на основе материалов с ЭПФ различных конфигураций.
  • Методика выполнения измерений линейных размеров элементов структуры наноматериалов и определения фазового состава.
  • Методика калибровки рентгеновского фотоэлектронного спектрометра
  • Методика выполнения измерений линейных размеров элементов структуры термоэлектрических материалов на просвечивающем электронном микроскопе
  • Методика определения фазового состава образца в локальных областях по дифракционной картине на просвечивающем электронном микроскопе