Центр коллективного пользования высокоточных измерительных технологий в области фотоники
Контакты
119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
+7 (495) 437 43 33

ЦКП ВНИИОФИ образован на базе ФГУП «ВНИИОФИ» и предназначен для аттестации испытательного оборудования, повышения эффективности использования имеющихся во ВНИИОФИ эталонов, создаваемых и приобретаемых высокоточных средств измерений, а также аналитического, измерительного, диагностического, аттестованного испытательного оборудования и другого оборудования , необходимого для решения научных задач, определенных приоритетными направлениями развития науки, технологий и техники Российской Федерации и Перечнем критических технологий Российской Федерации.

Оборудование

Cпектрометр энергодисперсионный INCA Energy 250
Cпектрометр энергодисперсионный INCA Energy 250
Cпектрометр энергодисперсионный INCA Energy 250
Cпектрометр энергодисперсионный INCA Energy 250
Назначение:
Оборудование дляисследованияструктуры и состава
Анализатор размеров частиц Zetasizer Nano-ZS (Malvern Instruments)
Анализатор размеров частиц Zetasizer Nano-ZS (Malvern Instruments)
Анализатор размеров частиц Zetasizer Nano-ZS (Malvern Instruments)
Анализатор размеров частиц Zetasizer Nano-ZS (Malvern Instruments)
Назначение:
Предназначен для определения размеров частиц мотодом динамического рассеивания
Ближнепольный микроскоп Alpha 300 (WITec)
Ближнепольный микроскоп Alpha 300 (WITec)
Ближнепольный микроскоп Alpha 300 (WITec)
Ближнепольный микроскоп Alpha 300 (WITec)
Назначение:
Предназначен для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении.
Газовый лазер GEM SELECT 50 (Coherent) на длине волны 10,6 мкм
Газовый лазер GEM SELECT 50 (Coherent) на длине волны 10,6 мкм
Газовый лазер GEM SELECT 50 (Coherent) на длине волны 10,6 мкм
Газовый лазер GEM SELECT 50 (Coherent) на длине волны 10,6 мкм
Назначение:
Предназначен для использования в качестве источника мощного лазерного излучения
ГЭТ 138-2010 Государственный первичный эталон единицы показателя преломления (ВНИИОФИ)
ГЭТ 138-2010 Государственный первичный эталон единицы показателя преломления (ВНИИОФИ)
ГЭТ 138-2010 Государственный первичный эталон единицы показателя преломления (ВНИИОФИ)
ГЭТ 138-2010 Государственный первичный эталон единицы показателя преломления (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для калибровки специализированной аппаратуры
ГЭТ 148-2013 Государственный первичный специальный эталон единиц максимальных значений напряженностей импульсных электрического и магнитного полей (ВНИИОФИ)
ГЭТ 148-2013 Государственный первичный специальный эталон единиц максимальных значений напряженностей импульсных электрического и магнитного полей (ВНИИОФИ)
ГЭТ 148-2013 Государственный первичный специальный эталон единиц максимальных значений напряженностей импульсных электрического и магнитного полей (ВНИИОФИ)
ГЭТ 148-2013 Государственный первичный специальный эталон единиц максимальных значений напряженностей импульсных электрического и магнитного полей (ВНИИОФИ)
Назначение:
Государственный первичный специальный эталон применяют для передачи размеров единиц рабочим эталонам непосредственным сличением и методом прямых измерений и рабочим средствам измерений методом прямых измерений
ГЭТ 157-2002 Государственный специальный эталон единицы энергетической освещенности малых уровней в диапазоне длин волн 1,0 – 50,0 мкм (ВНИИОФИ)
ГЭТ 157-2002 Государственный специальный эталон единицы энергетической освещенности малых уровней в диапазоне длин волн 1,0 – 50,0 мкм (ВНИИОФИ)
ГЭТ 157-2002 Государственный специальный эталон единицы энергетической освещенности малых уровней в диапазоне длин волн 1,0 – 50,0 мкм (ВНИИОФИ)
ГЭТ 157-2002 Государственный специальный эталон единицы энергетической освещенности малых уровней в диапазоне длин волн 1,0 – 50,0 мкм (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для воспроизведения и хранения единицы энергетической освещенности малых уровней в диапазоне длин волн 1 ÷50.0 мкм и передачи размера единицы при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки, применяемых в народном хозяйстве с целью обеспечения единства измерений в стране
ГЭТ 162-2012 Государственный первичный эталон единиц потока излучения, энергетической освещенности, спектральной плотности энергетической освещенности и энергетической экспозиции в диапазоне длин волн 0,4 до 400 нм,  (ВНИИОФИ)
ГЭТ 162-2012 Государственный первичный эталон единиц потока излучения, энергетической освещенности, спектральной плотности энергетической освещенности и энергетической экспозиции в диапазоне длин волн 0,4 до 400 нм, (ВНИИОФИ)
ГЭТ 162-2012 Государственный первичный эталон единиц потока излучения, энергетической освещенности, спектральной плотности энергетической освещенности и энергетической экспозиции в диапазоне длин волн 0,4 до 400 нм,  (ВНИИОФИ)
ГЭТ 162-2012 Государственный первичный эталон единиц потока излучения, энергетической освещенности, спектральной плотности энергетической освещенности и энергетической экспозиции в диапазоне длин волн 0,4 до 400 нм, (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для воспроизведения, хранения и передачи размера единиц потока излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,0004-0,4 мкм
ГЭТ 170-2011 Государственный первичный специальный эталон единиц длины и времени распространения сигнала в световоде, средней мощности, ослабления и длины волны для волоконно-оптических систем связи и передачи информации (ВНИИОФИ)
ГЭТ 170-2011 Государственный первичный специальный эталон единиц длины и времени распространения сигнала в световоде, средней мощности, ослабления и длины волны для волоконно-оптических систем связи и передачи информации (ВНИИОФИ)
ГЭТ 170-2011 Государственный первичный специальный эталон единиц длины и времени распространения сигнала в световоде, средней мощности, ослабления и длины волны для волоконно-оптических систем связи и передачи информации (ВНИИОФИ)
ГЭТ 170-2011 Государственный первичный специальный эталон единиц длины и времени распространения сигнала в световоде, средней мощности, ослабления и длины волны для волоконно-оптических систем связи и передачи информации (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для калибровки приборов волоконно-оптических систем связи и передачи информации
ГЭТ 179-2010 Государственный первичный специальный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости и относительного спектрального распределения мощности излучения в диапазоне длин волн 0,3…25,0 мкм, (ВНИИОФИ)
ГЭТ 179-2010 Государственный первичный специальный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости и относительного спектрального распределения мощности излучения в диапазоне длин волн 0,3…25,0 мкм, (ВНИИОФИ)
ГЭТ 179-2010 Государственный первичный специальный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости и относительного спектрального распределения мощности излучения в диапазоне длин волн 0,3…25,0 мкм, (ВНИИОФИ)
ГЭТ 179-2010 Государственный первичный специальный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости и относительного спектрального распределения мощности излучения в диапазоне длин волн 0,3…25,0 мкм, (ВНИИОФИ)
Назначение:
Применение Государственного первичного специального эталона распространяется на области науки и техники, где требуется измерение оптических спектроэнергетических характеристик естественных и искусственных объектов
ГЭТ 184-2010 Государственный первичный специальный эталон единиц хроматической дисперсии в оптическом волокне  (ВНИИОФИ)
ГЭТ 184-2010 Государственный первичный специальный эталон единиц хроматической дисперсии в оптическом волокне (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для калибровки специализированной аппаратуры
ГЭТ 185-2010 Государственный первичный специальный эталон единицы поляризации модовой дисперсии в оптическом волокне (ВНИИОФИ)
ГЭТ 185-2010 Государственный первичный специальный эталон единицы поляризации модовой дисперсии в оптическом волокне (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для калибровки специализированной аппаратуры
ГЭТ 186-2010 Государственный первичный эталон единиц эллипсометрических углов  (ВНИИОФИ)
ГЭТ 186-2010 Государственный первичный эталон единиц эллипсометрических углов (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для калибровки специализированной аппаратуры
ГЭТ 202-2012 Государственный первичный специальный эталон единицы импульсного тока молниевого разряда в диапазоне от 1 кА до 100 кА, (ВНИИОФИ)
ГЭТ 202-2012 Государственный первичный специальный эталон единицы импульсного тока молниевого разряда в диапазоне от 1 кА до 100 кА, (ВНИИОФИ)
Назначение:
Эталон применяют для воспроизведения и хранения единицы импульсного тока молниевого разряда в диапазоне от 1 до 100 кА и передачи единицы вторичным эталонам методом прямых измерений и сличением при помощи компаратора и рабочим средствам измерений методом прямых измерений
ГЭТ 203-2012 Государственный первичный эталон единицы комплексного показателя преломления (ВНИИОФИ)
ГЭТ 203-2012 Государственный первичный эталон единицы комплексного показателя преломления (ВНИИОФИ)
Назначение:
Применяют для контроля технологических параметров (толщина, композиция состава, величина шероховатости) в полупроводниковой наноэлектронике, в рентгеновской оптике, оптике интерференционных покрытий, включающих слои металлов
ГЭТ 205-2013 Государственный первичный эталон единицы оптической силы очковой оптики (ВНИИОФИ)
ГЭТ 205-2013 Государственный первичный эталон единицы оптической силы очковой оптики (ВНИИОФИ)
Назначение:
Применяют для воспроизведения, хранения единиц вершинной рефракции и призматического действия очковой оптики (эталон), значения которых получены расчетным путем, и последующей передачи указанных единиц через рабочие эталоны рабочим средствам измерений
ГЭТ 28-2016 Государственный первичный эталон единицы средней мощности лазерного излучения (ВНИИОФИ)
ГЭТ 28-2016 Государственный первичный эталон единицы средней мощности лазерного излучения (ВНИИОФИ)
Назначение:
Обеспечивает воспроизведение единицы средней мощности лазерного излучения в диапазоне от 1·10-9 до 2,0 Вт на длинах волн 0,532; 0,632; 0,912; 1,053; 1,064 и 10,6 мкм
ГЭТ 50-2008 Государственный первичный эталон единицы угла вращения плоскости поляризации (ВНИИОФИ)
ГЭТ 50-2008 Государственный первичный эталон единицы угла вращения плоскости поляризации (ВНИИОФИ)
Назначение:
Применяют для воспроизведения и хранения единицы угла вращения плоскости поляризации и передачи размера единицы при помощи рабочих эталонов рабочим средствам измерений
ГЭТ 5-2012 Государственный первичный эталон единицы силы света и светового потока непрерывного излучения (ВНИИОФИ)
ГЭТ 5-2012 Государственный первичный эталон единицы силы света и светового потока непрерывного излучения (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для воспроизведения, содержания и передачи размеров единиц силы света (кд) и светового потока (лм) вторичным эталонам сличением при помощи компаратора и методом косвенных измерений и рабочим эталонам и рабочим средствам измерений сличением при помощи компаратора, непосредственным сличением, методом прямых измерений
ГЭТ 81-2009 Государственный первичный специальный эталон единиц координат цвета и координат цветности
ГЭТ 81-2009 Государственный первичный специальный эталон единиц координат цвета и координат цветности
Назначение:
Предназначен для воспроизведения единиц координат цвета и координат цветности
ГЭТ 86-2010 Государственный первичный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин вол
ГЭТ 86-2010 Государственный первичный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин вол
Назначение:
Предназначен для воспроизведения и передачи размеров единиц спектральных и интегральных энергетических величин, характеризующих источники и приемники оптического излучения
ГЭТ 90-2007 Государственный первичный специальный эталон единицы мощности импульсного лазерного излучения в диапазоне длин волн 0,4-10,6 мкм (ВНИИОФИ)
ГЭТ 90-2007 Государственный первичный специальный эталон единицы мощности импульсного лазерного излучения в диапазоне длин волн 0,4-10,6 мкм (ВНИИОФИ)
Назначение:
Применяют для передачи единиц мощности и динамических параметров приемников импульсного лазерного излучения в диапазоне длин волн от 0,4 до 10,6 мкм
Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S (Shimadzu)
Дифрактометр рентгеновский XRD-7000S (Shimadzu)
Назначение:
Прецизионное определение параметров решётки, определение остаточного аустенита, расчёт степени кристалличности, определение размеров кристаллитов, анализ напряжений, анализ текстур, программное обеспечение Rietveld
ИК-Фурье спектрометр SPECTRUM GX (OPTICA)
ИК-Фурье спектрометр SPECTRUM GX (OPTICA)
Назначение:
Предназначен для анализа структуры вещества методом ИК-Фурье спектрометрии
Комплекс метрологический для измерений характеристик солнечных элементов МК-СЭ (ВНИИОФИ)
Комплекс метрологический для измерений характеристик солнечных элементов МК-СЭ (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для калибровки эталонных солнечных элементов в стандартных условиях
Комплекс метрологический КМ-РЭ (ВНИИОФИ) для измерения силы света, светового потока, координат цветности, яркости полупроводниковых излучателей
Комплекс метрологический КМ-РЭ (ВНИИОФИ) для измерения силы света, светового потока, координат цветности, яркости полупроводниковых излучателей
Назначение:
Предназначен для измерения фотометрических и колориметрических характеристик излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур в качестве Рабочего эталона 1-го разряда
Испытательная климатическая камера Czibula Grundman
Испытательная климатическая камера Czibula Grundman
Назначение:
Предназначен для измерения оптических параметров жидкостей
Комплект осциллографических регистраторов и устройств
Комплект осциллографических регистраторов и устройств
Назначение:
Предназначен для измерения формы и уровня сигнала в электронных приборах
Лазерный комплекс для прецизионной калибровки временной шкалы хронографов (ВНИИОФИ)
Лазерный комплекс для прецизионной калибровки временной шкалы хронографов (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для прецизионной калибровки временной шкалы хронографов
Микроскоп атомно-силовой Innova (Veeco Instruments)
Микроскоп атомно-силовой Innova (Veeco Instruments)
Назначение:
Предназначен для проведения исследований методом атомно-силовой микроскопии
Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1 (ВНИИОФИ)
Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1 (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для измерения профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне, а также распределения показателя преломления прозрачных объектов
Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (ВНИИОФИ)
Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-1М (ВНИИОФИ)
Назначение:
МИА-1М предназначен для измерения профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне, а также распределения показателя преломления прозрачных объектов (при использовании специальной кюветы)
Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-Д (ВНИИОФИ)
Микроскоп интерференционный автоматизированный МИА-Д (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для измерения профиля поверхности отражающих динамических объектов в микро- и нанодиапазоне, а также распределения показателя преломления прозрачных динамических объектов
Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200А (Veeco Instruments)
Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200А (Veeco Instruments)
Назначение:
Предназначен для исследований методом конфокальной сканирующей микроскопии
Микроскоп сканирующий интерференционный белого света Zygo NewView 6200 (Zygo Corporation)
Микроскоп сканирующий интерференционный белого света Zygo NewView 6200 (Zygo Corporation)
Назначение:
Предназначен для оптических измерений и исследований
Микроскоп сканирующий конфокальный интерферометрический DCM 3D (Leica Microsystems)
Микроскоп сканирующий конфокальный интерферометрический DCM 3D (Leica Microsystems)
Назначение:
Предназначение: быстрая дистанционная оценка микро- и нано- структур технических поверхностей в нескольких конфигурациях. Объединяет конфокальную и интерферометрическую технологии для увеличения скорости измерений и получения высокого разрешения изображений до 0.1 нм
Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120 (Carl Zeiss)
Микроскоп электронный просвечивающий Libra 120 (Carl Zeiss)
Назначение:
Предназначен для электронной микроскопии сверхвысокого разрешения
Микроскоп электронный сканирующий (растровый) Nvision 40 (Carl Zeiss)
Микроскоп электронный сканирующий (растровый) Nvision 40 (Carl Zeiss)
Назначение:
Предназначен для микроскопии высокого разрешения
Непрерывный лазер Verdi V8 (Coherent) на длине волны 532 нм
Непрерывный лазер Verdi V8 (Coherent) на длине волны 532 нм
Назначение:
Используется в качестве источника мощного лазерного излучения
Осциллограф TDS 784 D (Tektronix)
Осциллограф TDS 784 D (Tektronix)
Назначение:
Предназначен для измерения уровня и формы сигнала в электронных приборах
Прецизионный спектрофотометр ЛЯМБДА 850 (Perkin Elmer)
Прецизионный спектрофотометр ЛЯМБДА 850 (Perkin Elmer)
Назначение:
Предназначен для исследовательских лабораторий, где требуется высокая точность результатов, для прецизионных измерений, контроля качества оптических элементов
Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М (ВНИИОФИ)
Профилометр интерференционный компьютерный ПИК-30М (ВНИИОФИ)
Назначение:
ПИК-30М предназначен для измерения относительных высот профиля поверхности (топограмм) полированных изделий
Скоростная электронно-оптическая камера (многокадровая) К011 (БИФО)
Скоростная электронно-оптическая камера (многокадровая) К011 (БИФО)
Назначение:
Предназначена для скоростной съемки физических процессов
Скоростная электронно-оптическая камера (хронографическая) К008 (БИФО)
Скоростная электронно-оптическая камера (хронографическая) К008 (БИФО)
Назначение:
Предназначена для скоростной съемки физических процессов
Спектрограф MS260itm (ARIЕL NewPort)
Спектрограф MS260itm (ARIЕL NewPort)
Назначение:
Предназначен для исследования структуры и состава лабораторного материала
Спектрометр атомно-абсорбционный АА280FS (AgilentTechnologies)
Спектрометр атомно-абсорбционный АА280FS (AgilentTechnologies)
Назначение:
Предназначен для анализа состава и структуры вещества методом атомно-абсорбционной спектрометрии
Спектрометр атомно-абсорбционный Квант-Z.ЭТА (КОРТЭК)
Спектрометр атомно-абсорбционный Квант-Z.ЭТА (КОРТЭК)
Назначение:
Предназначен для количественного определения элементов в жидких пробах различного происхождения и состава на уровне долей нг/л (ppt.)
Спектрометр рентгенофлуоресцентный XGT-1000W (HORIBA)
Спектрометр рентгенофлуоресцентный XGT-1000W (HORIBA)
Назначение:
Предназначен для исследования структуры и состава лабораторного материала
Спектрометр эмиссионный с индуктивно-связанной плазмой Ultima 2 (Jobin Yvon)
Спектрометр эмиссионный с индуктивно-связанной плазмой Ultima 2 (Jobin Yvon)
Назначение:
Предназначен для исследования структуры и состава вещества
Спектрофлуориметр Fluorolog-3-22 (Jobin Yvon)
Спектрофлуориметр Fluorolog-3-22 (Jobin Yvon)
Назначение:
Предназначен для исследования структуры и состава лабораторного материала
Спектрофотометр Cary 50 Varian (Agilent Technologies)
Спектрофотометр Cary 50 Varian (Agilent Technologies)
Назначение:
Предназначен для исследования структуры и состава лабораторного материала
Установка для воспроизведения единицы частоты оптического излучения в диапазоне 1100 нм – 1700 нм сиспользованием синтезатора оптических частот, рубидиевого стандарта частоты и узкополосного одночастотного лазера ВНИИОФИ
Установка для воспроизведения единицы частоты оптического излучения в диапазоне 1100 нм – 1700 нм сиспользованием синтезатора оптических частот, рубидиевого стандарта частоты и узкополосного одночастотного лазера ВНИИОФИ
Назначение:
Предназначена для воспроизведения единицы частоты оптического излучения в диапазоне 1100 нм – 1700 нм сиспользованием синтезатора оптических частот, рубидиевого стандарта частоты и узкополосного одночастотного лазера
Установка для подготовки образцов PIPS II Plus 695 (Gatan)
Установка для подготовки образцов PIPS II Plus 695 (Gatan)
Назначение:
Предназначена для пробоподготовки образцов для электронной микроскопии
Установка напылительная настольная Q150T ES (Quorum Technologies)
Установка напылительная настольная Q150T ES (Quorum Technologies)
Назначение:
Предназначена для пробоподготовки микроскопии
Хромато-масс-спектрометр 320MS (Bruker Daltonics)
Хромато-масс-спектрометр 320MS (Bruker Daltonics)
Назначение:
Предназначен для исследования структуры и состава лабораторного материала
Чистые помещения (МФарм)
Чистые помещения (МФарм)
Назначение:
Помещения созданы с целью понижения внешних факторов, ухудшающих точность измерений на высокоточном оборудовании, и уменьшения загрязнения наноструктурированных образцов в процессе установки их в высокоточное измерительное оборудование. А так же обеспечение выполнения высокоточных оптико-физических измерений, разработку технологий создания тест-объектов и эталонных образцов для метрологического обеспечения нанотехнологий и оценки соответствия продукции наноиндустрии
Эмиссионный спектрометр с тлеющим разрядом GD Profiler 2 (Jobin Yvon)
Эмиссионный спектрометр с тлеющим разрядом GD Profiler 2 (Jobin Yvon)
Назначение:
Предназначен для исследования структуры и состава лабораторного материала
ГЭТ 215-2015 Государственный первичный специальный эталон единицы внутриглазного давления
ГЭТ 215-2015 Государственный первичный специальный эталон единицы внутриглазного давления
Назначение:
Предназначен для воспроизведения, хранения единицы давления (Па (Н/м2), мм рт.ст.) для офтальмологии, значение которой получено экспериментальным путем, и последующей передачи указанной единицы при помощи рабочих эталонов рабочим средствам измерений
ГЭТ 214-2014 Государственный первичный специальный эталон единицы силы света малых уровней в диапазоне 10-6 – 10 кд
ГЭТ 214-2014 Государственный первичный специальный эталон единицы силы света малых уровней в диапазоне 10-6 – 10 кд
Назначение:
Для воспроизведения единиц силы света, яркости и освещенности малых уровней был выбран метод ослабления энергии излучения с использованием последовательно установленных сферических ослабителей
ГЭТ 213-2014 Государственный первичный эталон единиц величин абсолютной и относительной спектральной чувствительности в диапазоне длин волн от 0,25 до 14,00 мкм
ГЭТ 213-2014 Государственный первичный эталон единиц величин абсолютной и относительной спектральной чувствительности в диапазоне длин волн от 0,25 до 14,00 мкм
Назначение:
Создание эталона реализует задачу повышения эффективности систем оптико-электронной аппаратуры, используемой для получения метеоинформации, предсказания погоды, предупреждения об опасных метеорологических явлениях, для контроля состояния окружающей среды
Уникальная технологическая линия для сборки фотоэлектронных приборов в высоком вакууме
Уникальная технологическая линия для сборки фотоэлектронных приборов в высоком вакууме
Назначение:
Установка для сборки в вакууме фотоэлектрических приборов третьего поколения, используемая для создания аппаратуры для контроля характеристик приемников оптического излучения
Метрологический комплекс для ближнего УФ, вакуумного УФ, экстремального УФ, видимого, ИК, терагерцового и Рентгеновского диапазонов на основе источника Синхротронного излучения
Метрологический комплекс для ближнего УФ, вакуумного УФ, экстремального УФ, видимого, ИК, терагерцового и Рентгеновского диапазонов на основе источника Синхротронного излучения
Назначение:
Прецизионные радиометрические измерения характеристик приемников и источников оптического излучения на основе абсолютных радиометров, измерения прямого и рассеянного солнечного излучения, направленного и диффузного инфракрасного излучения в целях решения задач экологии, климатологии, в том числе валидации спутниковой информации. Характеристики: спектральный диапазон – 0,2-25 мкм, динамический диапазон от 3-1500 Вт/м2; погрешность измерений от 0,05-1%
Метрологический комплекс для УФ-видимого-ИК диапазонов на основе оптических Излучателей - моделей черных тел (МЧТ)
Метрологический комплекс для УФ-видимого-ИК диапазонов на основе оптических Излучателей - моделей черных тел (МЧТ)
Назначение:
Комплекс включает в себя радиометрическое оборудование на основе абсолютного криогенного радиометра L-1 Standards and Technology, Inc., а также 3 комплекса установок – для фотометрических и радиометрических измерений в диапазонах УФ-видимого-ИК диапазонов на базе МЧТ с перестраиваемыми (в диапазоне от 300 до 3500 К) и фиксированными температурами на основе фазовых переходов металло-углеродных эвтектических сплавов Re-C, TiC-C, ZrC-C, а также монохроматических источников и диффузных источников на базе интегрирующих сфер (ИС)
ГЭТ 206-2016 Государственный первичный эталон единицы оптической плотности (ВНИИОФИ)
ГЭТ 206-2016 Государственный первичный эталон единицы оптической плотности (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для воспроизведения, хранения и передачи размера единицы диффузной оптической плотности материалов в проходящем и в отраженном свете
ГЭТ 196-2015 Государственный первичный эталон единиц массовой (молярной) доли и массовой (молярной) концентрации компонентов в жидких и твердых веществах и материалах на основе спектральных методов (ВНИИОФИ)
ГЭТ 196-2015 Государственный первичный эталон единиц массовой (молярной) доли и массовой (молярной) концентрации компонентов в жидких и твердых веществах и материалах на основе спектральных методов (ВНИИОФИ)
Назначение:
Обеспечивает единство измерений в области количественного химического анализа жидких и твердых веществ и материалов, в том числе биопроб
ГЭТ 187-2016 Государственный первичный специальный эталон единиц энергии, распределения плотности энергии, длительности импульса и длины волны лазерного излучения (ВНИИОФИ)
ГЭТ 187-2016 Государственный первичный специальный эталон единиц энергии, распределения плотности энергии, длительности импульса и длины волны лазерного излучения (ВНИИОФИ)
Назначение:
Воспроизводит, хранит и передает размеры единиц соответствующим рабочим эталонам. В его состав входят комплексы СИ для воспроизведения и передачи размеров единиц энергии, распределения плотности энергии, длительности импульса и длины волны лазерного излучения
ГЭТ 178-2016 Государственный первичный специальный эталон единиц напряженностей импульсных электрического и магнитного полей с длительностью фронта импульсов в диапазоне от 10 до 100 пс, (ВНИИОФИ)
ГЭТ 178-2016 Государственный первичный специальный эталон единиц напряженностей импульсных электрического и магнитного полей с длительностью фронта импульсов в диапазоне от 10 до 100 пс, (ВНИИОФИ)
Назначение:
Предназначен для калибровки специализированной аппаратуры
ГЭТ 156-2015 Государственный первичный эталон единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм
ГЭТ 156-2015 Государственный первичный эталон единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, диффузного и зеркального отражений в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм
Назначение:
Предназначен для воспроизведения, хранения и передачи единиц спектральных коэффициентов направленного пропускания, оптической плотности, диффузного и зеркального отражения в диапазоне длин волн от 0,2 до 20,0 мкм
ГЭТ 84-2015 Государственный первичный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности потока излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, спектральной плотности силы излучения, энергетической яркости
ГЭТ 84-2015 Государственный первичный эталон единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности потока излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, спектральной плотности силы излучения, энергетической яркости
Назначение:
Предназначен для воспроизведения, хранения и передачи размера единицы спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности потока излучения, спектральной плотности энергетической освещенности, спектральной плотности силы излучения, потока и силы излучения в диапазоне длин волн 0,001 - 1,600 мкм
Анализатор углерода и серы EMIA-Pro (Horiba)
Анализатор углерода и серы EMIA-Pro (Horiba)
Информационно-измерительная система для исследования оптоэлектронных элементов и устройств приема, передачи и обработки информации на основе радиофотоники (ИИС «Радиофотоника»)
Информационно-измерительная система для исследования оптоэлектронных элементов и устройств приема, передачи и обработки информации на основе радиофотоники (ИИС «Радиофотоника»)
Все оборудование