Назад к списку
Центр коллективного пользования высокоточных измерительных технологий в области фотоники
Центры коллективного пользования
Контакты
119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
+7 (495) 437 43 33

ЦКП ВНИИОФИ образован на базе ФГУП "ВНИИОФИ" и предназначен для аттестации испытательного оборудования, повышения эффективности использования имеющихся во ВНИИОФИ эталонов, создаваемых и приобретаемых высокоточных средств измерений, а также аналитического, измерительного, диагностического, аттестованного испытательного оборудования и другого оборудования , необходимого для решения научных задач, определенных приоритетными направлениями развития науки, технологий и техники Российской Федерации и Перечнем критических технологий Российской Федерации.

Методики

Совокупность опробованных и изученных методов и приемов для выполнения научного исследования.

  • Методика измерений (МВИ 1.2.007-2009) «Определение содержания циркония, церия, лантана в сложнолегированных наноструктурированных жаропрочных никелевых сплавах с применением метода ICP - спектрометрии (спектроскопии с индуктивно-связанной плазмой)»
  • Методика измерений (МВИ 1.2.009-2009) «Определение массовой доли фосфора в жаропрочных никелевых сплавах, легированных рением и рутением, с использованием масс-спектрометра с индуктивно-связанной плазмой»
  • Методика измерений (МВИ 1.2.010-2009) «Определение массовой доли скандия, иттрия и церия в жаропрочных никелевых сплавах, легированных рением и рутением, с использованием масс-спектрометра с индуктивно-связанной плазмой»
  • Методика измерений (МВИ 1.2.011-2009) «Определение массовой доли кальция и магния в жаропрочных никелевых сплавах, легированных рением и рутением»
  • Методика выполнения измерений «Структурно-динамические свойства цитоплазмы эритроцита»
  • Методика выполнения измерений «Определение внутриклеточной массы интерференционным методом»
  • Методика выполнения измерений пространственных характеристик излучения полупроводниковых светоизлучающих диодов
  • Методика выполнения измерений спектрорадиометрических, фотометрических и цветовых параметров полупроводниковых светоизлучающих диодов
  • Референтная методика измерения молярной концентрации кальция в сыворотке крови методом атомно-абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией. Свидетельство № 01-2010
  • Референтная методика измерения молярной концентрации калия в сыворотке крови методом атомно-эмиссионной спектрометрии с пламенной атомизацией. Свидетельство № 02-2010
  • Референтная методика измерения молярной концентрации натрия в сыворотке крови методом атомно-эмиссионной спектрометрии с пламенной атомизацией. Свидетельство № 03-2010
  • Методика измерений спектральных и фотоколометрических характеристик спектрорадиометром «SPECTRO 320 DTS 320-201» в диапазоне длин волн 380...930 нм
  • Методика измерений «Определение показателя преломления двухиммерсионным методом»
  • Методика измерений температуры объектов с зависящей от длины волны излучательной способностью пирометрами спектрального отношения
  • Методика измерений счетной концентрации наночастиц в водных, солевых растворах и биологических жидкостях методами абсорбционной спектрофотометрии и спектроскопии резонансного рассеяния
  • Методика измерений размеров и фракционного состава металлических и полимерных наночастиц в водных растворах и биологических жидкостях методом динамического рассеяния света
  • Методика измерений спектров пропускания и отражения одномерных и трехмерных фотонных кристаллов с помощью монохроматора/спектрографа SOLAR LS M266
  • Методика измерений нелинейных восприимчивостей второго и третьего порядков для процессов генерации второй и третьей оптических гармоник
  • Методика измерений нелинейной восприимчивости третьего порядка для процесса самовоздействия света методом анализа профиля лазерного пучка
  • Методика измерений трехмерного пространственного распределения интенсивности локального оптического поля на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов
  • Методика измерений трехмерного пространственного распределения поляризационных характеристик локального оптического поля в субдлинноволновом диапазоне на сканирующем микроскопе ближнего поля с использованием стандартных образцов наноструктур и фотонных кристаллов
  • Методика измерения геометрических размеров нейрона и субклеточных структур с помощью атомно-силового микроскопа
  • Методика измерений геометрических размеров эритроцита, субклеточных структур, липосом с помощью атомно-силового микроскопа
  • Методика измерений структурно-фазовых параметров углепластиков (характеристик пористости) с применением оптической микроскопии
  • Методика измерений структурно-фазовых параметров компонентов углепластика с применением рентгеноструктурного анализа
  • Определение химического состава высокопрочного пожаробезопасного титанового сплава
  • Методика измерения массовой концентрации элементов в водных, солевых растворах и биологических средах, содержащих наночастицы, методом атомно-абсорбционной спектрометрии с электротермической атомизацией
  • Методика измерения массовой концентрации золота в жидких средах, содержащих наночастицы, с возможностью оценки размеров частиц
  • Методика измерения массовой концентрации золота в тканях и внутренних органах лабораторных животных и оценки относительной эффективности проникновения наночастиц золота через биологические барьеры
  • Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности эталонных солнечных элементов в стандартных условиях с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
  • Методика измерений тока короткого замыкания эталонных солнечных элементов в стандартных условиях с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
  • Методика измерений эффективности преобразования солнечных элементов с использованием установки на основе имитатора солнечного излучения СТ200 метрологического комплекса «МК-СЭ»
  • Методика измерений коэффициентов отражения радиопоглощающих наноструктурированных материалов на полимерной эластофицированной основе с наполнителем в виде углеродных наночастиц
  • Методика измерений электропроводности (проводимости) порошка углеродных наночастиц
  • Методика измерений комплексной диэлектрической проницаемости радиопоглощающих наноструктурированных материалов на полимерной эластофицированной основе с наполнителем в виде углеродных наночастиц
  • Методика измерений линейных размеров наночастиц и прослоек наноструктурированных фаз наносиликатов методом рентгеноструктурного анализа
  • Методика измерений состава наноструктурированных фаз и прослоек методом микрорентгеноспектрального анализа
  • Методика измерений размеров фаз и слоев методом растровой электронной микроскопии
  • Методика измерений линейных размеров наночастиц и прослоек наноструктурированных фаз методом просвечивающей электронной микроскопии
  • Референтная методика измерений молярной концентрации лития в сыворотке крови методом атомно - абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией
  • Референтная методика измерения молярной концентрации кальция в плазме крови методом атомно-абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией
  • Референтная методика измерения магния в сыворотке крови
  • Референтная методика измерения молярной концентрации магния в плазме крови методом атомно-абсорбционной спектрометрии с пламенной атомизацией
  • Методика измерения токсичности наночастиц и наноматериалов методом масс-спектрометрического профилирования белков эмбрионов рыб вида Данио рерио
  • Методика измерений МИ 1.2.015-2011 «Определение массовой доли легирующих элементов, микролегирующих элементов и примесей в высокорениевых и интерметаллидных в жаропрочных никелевых сплавах рентгено-флуоресценным методом»
  • Методика измерений освещенности, энергетической освещенности, яркости, энергетической яркости в диапазоне длин волн 0,4...1,1 мкм
  • Методика измерений коэффициента линейного расширения полимерсиликатных нанокомпозитов и металлических образцов МИ 1.2.023-2011
  • Методика измерений теплоемкости порошков наночастиц, полимерсиликатных нанокомпозитов и металлических образцов МИ 1.2.024-2011
  • Методика измерений плоскостности поверхности наноструктурированной гетероэпитаксиальной структуры КРТ и полупроводниковой подложки (пластины)
  • Методика измерений оптического пропускания подложки (пластины)
  • Методика измерений шероховатости поверхности наноструктурированной гетероэпитаксиальной структуры КРТ и полупроводниковой подложки (пластины)
  • Методика измерений периода кристаллической решетки ТПУ фазы в жаропрочных никелевых сплавах МИ 1.2.025-2011
  • Методика измерений количественного анализа объемной плотности пластинчатых выделений метастабильных фаз в алюминиевых сплавах с литием МИ 1.2.026-2011
  • Методика измерений содержания гадолиния в водных растворах, суспензиях и сухих образцах полимерных наночастиц методом пламенной атомно-абсорбционной спектрометрии
  • Методика измерений ширины, углов расходимости и параметров качества пучка лазерного излучения
  • Методика измерений распределения по глубине концентрации бора, фосфора и мышьяка в кремнии с помощью вторично-ионного масс-спектрометра
  • Методика измерений температурного коэффициента линейного расширения высокожаропрочных сплавов в диапазоне температур 20.1400 С МИ 1.2.028-2011
  • Методика измерений термического коэффициента линейного расширения материалов на основе тугоплавких соединений в диапазоне температур 20...1400 С МИ 1.2.029-2011
  • Методика измерений теплоемкости материалов на основе тугоплавких соединений в диапазоне температур 20.1400 С МИ 1.2.030-2011
  • Методика измерений тепло- и температуропроводности материалов на основе тугоплавких соединений в диапазоне температур 20.1400 С МИ 1.2.031-2011
  • Методика измерений теплопроводности высокопористых теплоизоляционных материалов в диапазоне температур 20.1400 С МИ 1.2.032-2011
  • Методика измерения радиуса кривизны и децентровки подложек зеркал на профилометре интерференционном компьютерном
  • Методика измерения показателя преломления одиночной клетки двухиммерсионным методом
  • Методика измерения параметров шероховатости подложек лазерных зеркал на автоматизированном интерференционном микроскопе МИА-1
  • Методика измерения параметров шероховатости подложек лазерных зеркал на автоматизированном интерференционном микроскопе МИА-Д
  • Методика измерения эллипсометрических углов на эллипсометре
  • Методика измерения отношений интенсивностей пиков в спектрах комбинационного рассеяния на различных участках ядерных и безъядерных эритроцитов
  • Методика измерений значений нелинейно-оптической восприимчивости для процесса самовоздействия света в наноструктурированных полупроводниках методом накачка-зонд
  • Методика измерений дисперсии показателя преломления наноструктурированных образцов методом спектроскопии пропускания и отражения в видимом и ближнем инфракрасном диапазонах
  • Методика измерений спектральных характеристик лазерного излучения полупроводниковых лазеров на основе квантоворазмерных наногетероструктур
  • Методика измерений мощности лазерного излучения полупроводниковых лазеров на основе квантоворазмерных наногетероструктур
  • Методика измерений углов расходимости лазерного пучка полупроводниковых лазеров на основе квантоворазмерных наногетероструктур
  • Методика измерений по оценке акустических свойств шумопоглощающих полимерных композиционных материалов МИ 1.2.39-2011
  • Методика измерений комплексной диэлектрической проницаемости радиопоглощающих полимерных композиционных материалов на базе векторных анализаторов цепей серии PNA в диапазоне частот от 0,1 до 40 ГГц МИ 1.2.40-2011
  • Методика измерений распределения по глубине концентрации примесных химических элементов в слоистых структурах нанометрового диапазона на основе AlxGa1 xAs» с помощью вторично-ионного масс-спектрометра
  • Методика измерений массовой концентрации наночастиц, содержащих серебро или цинк, в различных средах и биологической матрице на основе ядерно-физической спектроскопии
  • Методика измерений размеров и фракционного состава наночастиц серебра и оксида цинка в водных и солевых растворах и образцах биологического происхождения методом динамического рассеяния света
  • Методика измерений отношения концентраций глутатиона восстановленного и глутатиона окисленного методом квадрупольной масс-спектрометрии для оценки индуцированного наночастицами окисленного стресса
  • Методика измерений величины поверхностного сопротивления образцов с оксидным электропроводящим покрытием МИ 1.2.034-2011
  • Методика измерений коэффициента пропускания образцов с оксидным электропроводящим покрытием МИ 1.2.033-2011
  • Методика измерений несоответствия периодов решеток частиц (выделений) у'- фазы размером от 50 нм и более С у -матрицей темнопольными методами просвечивающей электронной микроскопии и методом рентгеноструктурного анализа МИ 1.2.043-2011
  • Методика измерений размеров и геометрических характеристик частиц на изображениях, полученных методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии с помощью программы обработки изображений IMAGE EXPERT PRO 3x МИ 1.2.042-2011
  • Методика измерений определение фазового состава, размера областей когерентного рассеяния, параметров элементарных ячеек образцов в виде порошков МИ 1.2.041-2011
  • Методика измерений массовой доли хрома, молибдена, титана, ниобия и лантана в наноструктурированных деформированных жаропрочных никелевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой МИ 1.2.038-2011
  • Методика измерений определение массовой доли бора, кремния, церия, иттрия, железа, меди, марганца и фосфора в наноструктурированных деформированных жаропрочных никелевых сплавах методом эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой МИ 1.2.036-2011
  • Методика измерений соотношения основных элементов, входящих в состав оксидного электропроводящего покрытия
  • Методика измерений спектрального ослабления в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах
  • Методика измерений поляризационной модовой дисперсии в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах
  • Методика измерений хроматической дисперсии в наноструктурных фотонно-кристаллических световодах
  • Методика измерений массовой доли нефти и конденсата газового стабильного в продукции нефтегазоконденсатных скважин методом ИК Фурье-спектрометрии
  • Методика измерения массовой концентрации металлов в водных и солевых растворах и биологических жидкостях с возможностью определения размеров наночастиц методом атомно-абсорбционной спектрометрии с электротермической атомизацией
  • Методика измерений тока короткого замыкания эталонных солнечных элементов на основе наноструктурированных соединений AIIIBV (GaAs) с использованием установки МК-УСЧ метрологического комплекса "МК-СЭ"
  • Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности эталонных солнечных элементов на основе наноструктурированных соединений AIIIBV (GaAs) с использованием установки для измерения спектральной чувствительности МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
  • Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности полимерфулереновых эталонных солнечных элементов с расширенным диапазоном спектральной чувствительности и эталонных солнечных элементов на основе технологии тонких пленок в стандартных условиях с использованием установки МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
  • Методика измерений тока короткого замыкания полимерфулереновых эталонных солнечных элементов с расширенным диапазоном спектральной чувствительности и эталонных солнечных элементов на основе технологии тонких пленок в стандартных условиях с использованием установки МК-УСЧ метрологического комплекса «МК-СЭ»
  • Методика измерений электрокинетического потенциала наночастиц в водных, солевых растворах и биологических жидкостях методом электрофоретического рассеяния света
  • Методика измерений массовой концентрации углеродных нанотрубок в жидких средах методом абсорбционной спектрофотометрии
  • Методика измерений координат цветности светильников на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов)
  • Методика измерений пространственного распределения силы света светильников на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов)
  • Методика измерений светового потока светильников на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов)
  • Референтная методика измерений массовой доли бериллия и цинка в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
  • Референтная методика измерений массовой доли висмута и кадмия в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с электротермической атомизацией
  • Референтная методика измерений массовой доли магния, никеля и ванадия в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
  • Референтная методика измерений массовой доли титана, хрома и бериллия в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с электротермической атомизацией
  • Референтная методика измерений массовой доли титана и галлия в алюминиевых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
  • Методика измерения диаметра и длины несферических наночастиц в жидких средах методом мультиуглового динамического рассеяния света с учетом деполяризации рассеянного излучения
  • Методика измерения 3D-геометрии наноразмерных электродов акустоэлектронных устройств на пьезоподложках
  • Методика измерения толщины покрытий при различных геометрических и оптических параметрах, таких как пористость и размер пор, шероховатость и оптический коэффициент отражения методом двухлучевой некогерентной интерферометрии
  • Методика контроля воспроизводимости 3D-геометрических параметров керамического газочувствительного элемента, приготовленного по золь-гель технологии
  • Методика измерений массовых долей примесей в уране и его оксидах с применением комплекса атомно-эмиссионного спектрального анализа с анализатором МАЭС
  • Методика измерения спектральных и цветовых параметров и характеристик излучения источников света и светотехнических изделий
  • Методика измерений силы света, пространственного распределения силы света и светового потока электрических источников света линейным фотометром на базе фотометрической скамьи
  • Методика измерения показателя преломления биологических микрообъектов
  • Методика измерений структурно-фазовых параметров препрегов и углепластиков (параметров углеродного волокна и межфазных границ волокно/матрица) с применением просвечивающей электронной микроскопии
  • Методика измерений параметров влияния структурно-фазового состояния на свойства углепластиков
  • Методика измерений массовой доли тантала, вольфрама и ниобия в перспективных титановых сплавах методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно-связанной плазмой
  • Методика измерений по оценке коэффициента отражения в свободном пространстве в диапазоне частот от 0,1 до 40 ГГц
  • Методика измерений оптических свойств защитного элемента «Полюс» МВИ 47-08-46-2007
  • Методика измерений квантового выхода фотолюминесценции квантовых точек
  • Методика измерений легирующих добавок в хромоникелевых сталях атомно-эмиссионным методом
  • Методика измерений эффективной массы плутония-240 с применением счетчика множественности надтепловых нейтронов (RENMC)
  • Калориметрический метод измерений тепловой мощности образцов плутония с применением калориметра модели 601 производства ANTECH CORPORATION
  • Методика изготовления экспериментальных образцов оптических дисковых микрорезонаторов с применением электронно-лучевой литографии
  • Методика изготовления экспериментальных образцов оптических микрорезонаторов с помощью механической обработки
  • Методика изготовления экспериментальных образцов оптических микрорезонаторов с помощью термообработки
  • Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности приемников излучения с многослойными наноструктурами в диапазоне длин волн 120-400 нм
  • Методика измерений потока излучения, энергетической освещенности и экспозиционной дозы в диапазоне длин волн 10-200 нм
  • Методика калибровки средств измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов
  • МП 062.Д4-15 Спектрофотометры DR 1900 и DR 900
  • МП 015.М4-16 ГСИ. Спектрофотометр КИО
  • МП 016.Д4-16 ГСИ. Спектрофотометры LAMBDA 365
  • МП 017.Д4-16 ГСИ. Спектрофотометры LAMBDA 265 и LAMBDA 465
  • МП 054.М4-15 Ретрорефлектометры ZRM 6013+, ZRS 6060
  • МП 073.М4-15 ГСИ. Комплекс гониофотометрический
  • МК 018.М4-16 Набор образцов полного диффузного отражения рефлектометра солнечного
  • МК 019.М4-16 Набор образцов полного диффузного отражения рефлектометра инфракрасного
  • МК 010.М4-15 Светодиоды Калибровка силы света
  • МК 045.М4-16 Средства измерений освещенности
  • МП 022.М4-16 ГСИ. Установка для поверки и калибровки люксметров и яркомеров "СТИЛЬБ-7"
  • МК 009.М4-15 Лампы накаливания светоизмерительные. Калибровка освещенности
  • МП 044.Д4-15 ГСИ. Спектрометры люминесцентные LS 45 и LS 55
  • МК 024.М4-15 Средств измерений спектральной плотности энергетической яркости и спектральной плотности.
  • МИ абсолютного значения спектрального коэффициента диффузного отражения в диапазоне длин волн от 400 до 800 нм
  • Методика измерений энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,12 до 1,10 мкм
Подписаться на рассылку