Назад к списку
Установка для прецизионных измерений радиометрических и спектрорадиометрических характеристик источников и приемников излучения в спектральном диапазоне от 1 нм до 20 мкм
Уникальные научные установки
Контакты
119361, г. Москва, ул. Озерная, д. 46
+7 (495) 437 56 33

Уникальная научная установка предназначена для прецизионных измерений фотометрических, радиометрических и спектрорадиометрических характеристик источников и приемников излучения в широком спектральном диапазоне и температуры до 3500 К. Фотометрические, радиометрические и спектрорадиометрические измерения наиболее востребованы в таких направлениях применения как: - развитие космической техники; - получение метеоинформации, качественное предсказание погоды, предупреждение и мониторинг опасных метеорологических явлений; - контроль и прогнозирование климатических изменений на Земле; - разработка новых энергосберегающих источников освещения; - создание новых материалов (полимерные полупроводники в солнечных элементах, терморегулирующие покрытия, теплоизоляция, краски, аэрозоли и т.д.); - развитие фундаментальных и прикладных исследований в различных областях астрофизики, геофизики, химии, медицины, металлургии, машиностроения.

Методики

Совокупность опробованных и изученных методов и приемов для выполнения научного исследования.

  • Методика калибровки по чувствительности к спектральной плотности энергетической яркости прецизионных рабочих средств измерений - космической, авиационной и наземной гиперспектральной оптико-электронной аппаратуры дистанционного зондирования Земли
  • Методика измерений абсолютной спектральной чувствительности приемников излучения с многослойными наноструктурами в диапазоне длин волн 120-400 нм
  • МП 2412-0021-2008 Методика поверки излучателей АЧТ 50/1500
  • Методика поверки излучателей "Черное тело сферическое"
  • Методика поверки излучателей протяженных в виде модели абсолютно черного тела SR800
  • Методика поверки Комплекса измерительного "Камелия"
  • Методика калибровки комплектов светофильтров, предназначенных для использования в качестве эталонной меры спектрального коэффициента направленного пропускания (СКНП)
  • Методика калибровки комплектов мер спектрального коэффициента диффузного отражения
  • Методика калибровки комплектов мер спектрального коэффициента зеркального отражения (СКЗО)
  • Методика измерений потока излучения, энергетической освещенности и экспозиционной дозы в диапазоне длин волн 10-200 нм
  • Методика измерений потока излучения в диапазоне длин волн 1-200 нм вторичных эталонных излучателей
  • ГОСТ Р "ГСИ. Средства измерений силы излучения и эффективности полупроводниковых излучающих диодов. Методика поверки"
  • Методика калибровки средств измерений потока излучения полупроводниковых излучающих диодов
  • ГОСТ Р "ГСИ. Средства измерений коэффициента пульсации оптического излучения. Методика поверки"
  • ГОСТ Р "ГСИ. Энергетическая яркость и сила излучения в диапазоне длин волн 120-400 нм. Методика измерений"
  • ГОСТ Р "ГСИ. Оптические характеристики энергосберегающих стекол. Методика измерений"
  • ГОСТ Р "ГСИ. Абсолютная спектральная чувствительность приемников излучения в диапазоне длин волн 120-400 нм. Методика измерений"
  • ГОСТ Р "ГСИ. Пространственное распределение спектральной плотности энергетической яркости удаленных объектов. Методика измерений"
  • МИ температуры объектов с зависящей от длины волны излучательной способностью пирометрами спектрального отношения
  • МИ "ГСИ. Освещенность, энергетическая освещенность, яркость, энергетическая яркость. в диапазоне длин волн 0,4…1,1 мкм. Методика (метод) измерений"
  • МИ спектральных и цветовых параметров и характеристик излучения источников света и светотехнических изделий
  • МИ силы света, пространственного распределения силы света и светового потока электрических источников света линейным фотометром на базе фотометрической скамьи
  • МИ абсолютной спектральной чувствительности приёмников излучения в диапазоне длин волн 0,126-0,400 мкм
  • МИ потока излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн 10-30 нм
  • МИ коэффициента зеркального и диффузного отражения в диапазоне длин волн 0,03-0,20 мкм.
  • МИ энергетической яркости и силы излучения в диапазоне длин волн 0,03 – 0,126 мкм.
  • МИ Определение показателя преломления двухиммерсионным методом.
  • МИ абсолютной спектральной чувствительности приёмников излучения в диапазоне длин волн 0,03-0,126 мкм.
  • МВИ cилы света излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов) с использованием спектрорадиометрического метода.
  • МВИ светового потока излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов) с использованием гониофотометрического комплекса Optronik 10 µ.
  • МВИ яркости излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов) с использованием спектрорадиометра Konica-Minolta CS-2000
  • МВИ координат цветности излучателей на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов).
  • МВИ пространственных характеристик излуче¬ния полупроводниковых светоизлучающих диодов.
  • МВИ спектрорадиометрических, фотометри¬ческих и цветовых параметров полупроводниковых светоизлучающих дио¬дов.
  • МИ параметров светового излучения для авиационного светотехнического оборудования прибором "EZLite 120 R"
  • Методика измерения коэффициента абсолютной чувствительности к яркости панхроматической оптико-электронной аппаратуры дистанционного зондирования Земли
  • МИ пространственного распределения силы света светильников на основе наноразмерных гетероструктур (светодиодов)
  • МИ светового потока светильников на основе полупроводниковых многослойных наноразмерных гетероструктур (светодиодов)
  • МИ световой отдачи светильников на основе наноразмерных гетероструктур (светодиодов)
  • Методика измерений энергетической яркости и силы излучения в диапазоне длин волн 10-400 нм
  • Методика измерений пространственного распределения спектральной чувствительности
  • Методика калибровки средств измерений экспозиционной дозы и энергетической освещенности в диапазоне длин волн 10-120 нм
  • Методика измерения относительной спектральной чувствительности панхроматической оптико-электронной аппаратуры дистанционного зондирования Земли
  • Методика измерения абсолютного значения спектрального коэффициента диффузного отражения в диапазоне от 400 до 800 нм
  • Методика измерения абсолютной спектральной чувствительности трап детектора в спектральном диапазоне от 400 до 1100 нм
  • МК 010.М4-15 Светодиоды Калибровка силы света
  • МК 045.М4-16 Средства измерений освещенности
  • МП 022.М4-16 ГСИ. Установка для поверки и калибровки люксметров и яркомеров "СТИЛЬБ-7
  • МК 009.М4-15 Лампы накаливания светоизмерительные. Калибровка освещенности
  • МП 044.Д4-15 ГСИ. Спектрометры люминесцентные LS 45 и LS 55
  • Методика поверки пирометров для измерения температуры поверхности объектов с известной излучательной способностью в диапазоне температур -20...2000 °С
  • МИ 2184-92. Методика поверки образцовых и рабочих средств измерений СПЭЯ, СПСИ и СПЭО непрерывного оптического излучения в диапазоне длин волн 0,25...25 мкм
  • МК 024.М4-15 Средств измерений спектральной плотности энергетической яркости и спектральной плотности
  • Методика измерений энергетической освещенности в диапазоне длин волн от 0,12 до 1,10 мкм
  • Методика поверки градуировочной характеристики радиационного пирометра ТЕРА-50