Назад к списку
Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов
Центры коллективного пользования
Контакты
142190, г. Москва, г. Троицк, ул. Центральная, д. 7а
+7 (499) 400 62 25

Центр коллективного пользования научным оборудованием ФГБНУ ТИСНУМ "Исследования наноструктурных, углеродных и сверхтвердых материалов" создан на базе федерального государственного бюджетного научного учреждения "Технологический институт сверхтвердых и новых углеродных материалов". Направления исследований ЦКП сконцентрированы в области сверхтвердых и углеродных материалов, в том числе наноструктурных. 

Методики

Совокупность опробованных и изученных методов и приемов для выполнения научного исследования.

  • Методика выполнения измерений шероховатости и топографии поверхности на сканирующем зондовом микроскопе Ntegra prima Basic
  • Методика выполнения измерений коэффициента трещиностойкости на микротвердомете ПМТ-3М
  • Методика измерения шероховатости и топографии поверхности на оптическом профилометре
  • Методика выполнения измерений твердости методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д»
  • Методика выполнения измерений модуля упругости и упругого восстановления методом измерительного динамического индентирования на СЗМ «НаноСкан-3Д»
  • Методика измерений твердости по восстановленому отпечатку в нанометровом диапазоне на СЗМ "НаноСкан-3Д"
  • Методика измерений размеров и оценки распределения отдельных составляющих наноструктурированных элементов
  • Методика измерений твердости материалов с твердостью от 0,1 до 80 ГПа
  • Методика измерений модуля упругости и упругого восстановления
  • Методика определения наличия ростовых дефектов и глубины их расположения в монокристалле алмаза
  • Методика определения линейных размеров образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
  • Методика определения массы образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
  • Методика определения микротвердости образцов (в т.ч. монокристалла алмаза)
  • Методика определения концентрации примеси парамагнитного азота в монокристалле алмаза
  • Методика определения удельного электрического сопротивления монокристалла алмаза
  • Методика определения ширины пика КРС при 1332 см-1 на его полувысоте
  • Методика определения коэффициента поглощения в диапазоне от 240 нм до 25 мкм (исключая субдиапазон от 2 до 6,5 мкм)
  • Методика определения края поглощения в УФ диапазоне
  • Методика определения спектральной чувствительности, максимума спектральной чувствительности λмакс, токовой чувствительности при λмакс, спектрального диапазона чувствительности фотосопротивления
  • Методика определения угла между гранями пирамиды и осью пирамиды наноиндентора
  • Методика определения эффективного размера острия пирамиды наноиндентора
  • Методика определения шероховатости поверхностей граней пирамиды наноиндентора
  • Методика определения изгибной жесткости датчика-кантеливера
  • Методика определения максимального перемещения концевой точки датчика-кантеливера
  • Методика определения минимального разрешения по нагрузке датчика-кантеливера
  • Методика определения теплопроводности теплоотвода
  • Методика выполнения измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов
  • Методика измерения толщины покрытия; Определение толщины CVD слоя
  • Методика определения концентрации примеси азота в CVD слое
  • Методика определения удельного электрического сопротивления CVD слоя
  • Методика измерения модуля упругости Е сверхтвердых режущих пластин
  • Методика определения предела прочности при изгибе сверхтвердых режущих пластин
  • Методика определения предела прочности при сжатии сверхтвердых режущих пластин
  • Методика определения относительной износостойкости сверхтвердых режущих пластин
  • Методика измерений линейных размеров объектов в режиме изображения и межплоскостных расстояний в режиме дифракции