Функциональный контроль и диагностика микро- и наносистемной техники
Контакты
124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, д. 1, стр. 7
+7 (499) 740 90 11

ЦКП обеспечивает проведение научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ, исследований и экспериментов на научном, измерительном и испытательном оборудовании ЦКП в интересах НПК «Технологический центр», научных и образовательных учреждений, промышленных предприятий и организаций по техническим заданиям, типовым программам и методикам.

Оборудование

Анализатор микросистем MSA-500 (Polyteс)
Анализатор микросистем MSA-500 (Polyteс)
Анализатор микросистем MSA-500 (Polyteс)
Анализатор микросистем MSA-500 (Polyteс)
Назначение:
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Вибростенд электродинамический
Вибростенд электродинамический
Вибростенд электродинамический
Вибростенд электродинамический
Назначение:
Проведение испытаний на вибропрочность, ударного нагружения, определение собственной частоты колебаний изделия или образца.
Зондовый сканирующий микроскоп
Зондовый сканирующий микроскоп
Зондовый сканирующий микроскоп
Зондовый сканирующий микроскоп
Измеритель магнитных характеристик тонкопленочных материалов MESA-200 (SHB)
Измеритель магнитных характеристик тонкопленочных материалов MESA-200 (SHB)
Измеритель магнитных характеристик тонкопленочных материалов MESA-200 (SHB)
Измеритель магнитных характеристик тонкопленочных материалов MESA-200 (SHB)
Назначение:
Установка для измерения электрических и магнитных свойств
Измерительный комплекс АИК-ТЕСТ-2 (MIKI) с зондовой  установкой ЭМ-6010 №1
Измерительный комплекс АИК-ТЕСТ-2 (MIKI) с зондовой установкой ЭМ-6010 №1
Измерительный комплекс АИК-ТЕСТ-2 (MIKI) с зондовой  установкой ЭМ-6010 №1
Измерительный комплекс АИК-ТЕСТ-2 (MIKI) с зондовой установкой ЭМ-6010 №1
Назначение:
Предназначен для измерения электропроводности и диэлектрической проницаемости нанокомпозитных материалов, нанослоев и нанопокрытий на постоянном токе и в переменных полях
Измерительный комплекс АИК-ТЕСТ-2 (MIKI) с зондовой установкой ЭМ-6010 №2
Измерительный комплекс АИК-ТЕСТ-2 (MIKI) с зондовой установкой ЭМ-6010 №2
Измерительный комплекс АИК-ТЕСТ-2 (MIKI) с зондовой установкой ЭМ-6010 №2
Измерительный комплекс АИК-ТЕСТ-2 (MIKI) с зондовой установкой ЭМ-6010 №2
Назначение:
Предназначена для измерения электропроводности и диэлектрической проницаемости нанокомпозитных материалов, нанослоев и нанопокрытий на постоянном токе и в переменных полях
Камера тепла и холода  Tabai MC-71 №1
Камера тепла и холода Tabai MC-71 №1
Камера тепла и холода  Tabai MC-71 №1
Камера тепла и холода Tabai MC-71 №1
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микробиологии
Камера тепла и холода  Tabai MC-71 №2
Камера тепла и холода Tabai MC-71 №2
Камера тепла и холода  Tabai MC-71 №2
Камера тепла и холода Tabai MC-71 №2
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов
Камера тепла, холода, влаги
Камера тепла, холода, влаги
Камера тепла, холода, влаги
Камера тепла, холода, влаги
Назначение:
Испытания на воздействие повышенной, пониженной температуры и повышенной влажности.
Полупроводниковая измерительная система MDC CSM_Win System
Полупроводниковая измерительная система MDC CSM_Win System
Полупроводниковая измерительная система MDC CSM_Win System
Полупроводниковая измерительная система MDC CSM_Win System
Назначение:
Многофункциональная автоматизированная ртутнозондовая система для измерения параметров полупроводниковых и диэлектрических слоев. Доступны режимы: CV- метрия, Gate Oxide integrity V-ramp, J-ramp. Расчет Qtddb, Qdb Измерение вольт-фарадных и вольт-амперных характеристик МДП-структур
Система измерений динамических параметров микросхем в диапазоне температур
Система измерений динамических параметров микросхем в диапазоне температур
Назначение:
Предназначена для измерения электропроводности и диэлектрической проницаемости нанокомпозитных материалов, нанослоев и нанопокрытий на постоянном токе и переменных полях.
Спектроскопический элипсометр
Спектроскопический элипсометр
Назначение:
Измерения одно- и многослойных плёнок на прозрачных и поглощающих подложках.
Специализированный инфракрасный Фурье-спектрометр
Специализированный инфракрасный Фурье-спектрометр
Стенд электротермотренировки СЭТТ.ИМЭ №2
Стенд электротермотренировки СЭТТ.ИМЭ №2
Назначение:
Предназначен для электротермотренировки микросхем
Стенд электротеромтренировки СЭТТ.ИМЭ №1
Стенд электротеромтренировки СЭТТ.ИМЭ №1
Назначение:
Предназначен для электротермотренировки микросхем
Стенд электротеромтренировки СЭТТ.ИМЭ-2400-040 (Аврора-ТЭХМО) №3
Стенд электротеромтренировки СЭТТ.ИМЭ-2400-040 (Аврора-ТЭХМО) №3
Назначение:
Предназначен для электротермотренировки микросхем. Диапазон температур: без мощности рассеивания окружающая температура 15...350°С; с мощностью рассеивания окружающая температура 40...350°С. Отклонение температуры до 200°С и 200...300'С не более ±2°С. Количество проходных отверстий 0 100 мм 2 шт. Электропитание напряжением 380 В, частотой 50 Гц. Потребляемая мощность не более 8 кВт. Полезный объем 0,4 м3 (800х700х730) мм. Габаритные размеры 1180х1180х2000 мм.
Стенд электротеромтренировки СЭТТ.ИМЭ-2400-040 (Аврора-ТЭХМО) №4
Стенд электротеромтренировки СЭТТ.ИМЭ-2400-040 (Аврора-ТЭХМО) №4
Назначение:
Предназначен для электротермотренировки микросхем
Стенд электротеромтренировки СЭТТ.ИМЭ-2400-040 (Аврора-ТЭХМО) №5
Стенд электротеромтренировки СЭТТ.ИМЭ-2400-040 (Аврора-ТЭХМО) №5
Назначение:
Предназначен для электротермотренировки микросхем
Ударный стенд с системой управления SM-110
Ударный стенд с системой управления SM-110
Назначение:
Испытания на воздействие одиночного удара
Универсальная проходная камера
Универсальная проходная камера
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области микробиологии
Центрифуга WEB Technology модель 9000 (конфигурация 9051)
Центрифуга WEB Technology модель 9000 (конфигурация 9051)
Все оборудование