Испытательный аналитико-сертификационный центр Гиредмета
Контакты
119017, г. Москва, Б. Толмачевский пер., д. 5, стр. 1
+7 (495) 953 87 91

ЦКП-ИАСЦ Гиредмета создан на базе подразделений института Гиредмет с целью эффективного использования интеллектуального потенциала и уникального экспериментального оборудования, проведения научно-исследовательских работ, как фундаментального, так и прикладного характера в области материаловедения и металлургии, обеспечения подготовки квалифицированных специалистов, научных и научно-педагогических кадров высшей квалификации. ЦКП располагает уникальным комплексом современного аналитического оборудования, предназначенного для диагностики (исследования) состава, строения и свойств материалов (в т.ч. наноматериалов) на основе редких, цветных, благородных металлов, высокочистых веществ и полупроводниковых материалов.

Оборудование

Лабораторный анализатор кислорода, водорода, азота
Лабораторный анализатор кислорода, водорода, азота
Лабораторный анализатор кислорода, водорода, азота
Лабораторный анализатор кислорода, водорода, азота
Назначение:
Предназначен для анализа содержания кислорода, азота и водорода в металлах, сплавах и других неорганических материалах
Анализатор серы и углерода в металлах
Анализатор серы и углерода в металлах
Анализатор серы и углерода в металлах
Анализатор серы и углерода в металлах
Назначение:
Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее
Анализатор энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный
Анализатор энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный
Анализатор энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный
Анализатор энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный
Назначение:
Определение массовой концентрации химических элементов
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого разрешения с источником сплошного спектра
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого разрешения с источником сплошного спектра
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого разрешения с источником сплошного спектра
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого разрешения с источником сплошного спектра
Назначение:
Обеспечивает прямой анализ твёрдых проб без предварительной пробоподготовки. Спектрометр использующий источник света сплошного спектра. Прибор позволяет определять элементы от Na до U за один аналитический цикл.
Атомно-абсорбционный спектрофотометр
Атомно-абсорбционный спектрофотометр
Атомно-абсорбционный спектрофотометр
Атомно-абсорбционный спектрофотометр
Назначение:
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого класса для пламенного и электротермического атомно-абсорбционного анализа. Позволяет проводить анализ любых экологических, промышленных, пищевых, биологических и фармацевтических объектов, промвыбросов на содержание ультра-следов металлов и металлоидов.
Атомно-силовой и туннельный микроскоп
Атомно-силовой и туннельный микроскоп
Атомно-силовой и туннельный микроскоп
Атомно-силовой и туннельный микроскоп
Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр
Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр
Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр
Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр
Назначение:
Экспрессное определение цветных, редких и драгоценных металлов в сырье, полупродуктах, соединениях и сплавах
Инвертированный моторизованный флуоресцентный микроскоп исследовательского класса
Инвертированный моторизованный флуоресцентный микроскоп исследовательского класса
Инвертированный моторизованный флуоресцентный микроскоп исследовательского класса
Инвертированный моторизованный флуоресцентный микроскоп исследовательского класса
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии
Комплекс лабораторного пробоподготовительного оборудования
Комплекс лабораторного пробоподготовительного оборудования
Комплекс лабораторного пробоподготовительного оборудования
Комплекс лабораторного пробоподготовительного оборудования
Малогабаритный спектрометр Колибри-2
Малогабаритный спектрометр Колибри-2
Малогабаритный спектрометр Колибри-2
Малогабаритный спектрометр Колибри-2
Назначение:
180 - 900 нм или 185 - 760 нмКоррекция фона Quadline (усиленная дейтериевая) корректирует 2 ед. абс. с погрешностью менее 2%. Частота модуляции - 200 Гц. Применение: Двухлучевая схема Стокдейла позволяет получить самые лучшие пределы обнаружения в АА.
Масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией в тлеющем разряде
Масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией в тлеющем разряде
Назначение:
Масс-спектрометры для элементного анализа
Искровой масс-спектрометр с двойной фокусировкой JMS 010B (JEOL)
Искровой масс-спектрометр с двойной фокусировкой JMS 010B (JEOL)
Назначение:
Масс-спектрометры для изотопного анализа
Лабораторный масс-спектрометрический комплекс
Лабораторный масс-спектрометрический комплекс
Назначение:
Предназначен для элементного анализа
Микроденситометр автоматический
Микроденситометр автоматический
Назначение:
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Комплекс атомно-эмиссионного спектрального анализа с анализатором МАЭС
Комплекс атомно-эмиссионного спектрального анализа с анализатором МАЭС
Назначение:
Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее
Оптические микроскопы
Оптические микроскопы
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Оптический Фурье- спектрометр
Оптический Фурье- спектрометр
Назначение:
ИК-Фурье спектрометр предназначен для проведения анализов в ИК области спектра для оценки подлинности органических и неорганических соединений, анализ состава смесей.
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой JY-38
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой JY-38
Назначение:
Предназначен для проведения количественного элементного анализа. Возможно определение более 70-ти элементов в широком диапазоне концентраций (от n.10-4% до n 10%) в различных образцах. Области применения: Стали и чугуны, Сплавы на основе: Al, Mg, Cu, Zn, Ni, Co, Ti, Zr, Mo, W, Ta, Nb, Cr, V, Mn, Ag, Au, Pd, Pt, Sc, Р.З.М, и др.
Приставка для прямого анализа твердых проб без микровесов
Приставка для прямого анализа твердых проб без микровесов
Назначение:
180 - 900 нм или 185 - 760 нмКоррекция фона Quadline (усиленная дейтериевая) корректирует 2 ед. абс. с погрешностью менее 2%. Частота модуляции - 200 Гц. Применение: Двухлучевая схема Стокдейла позволяет получить самые лучшие пределы обнаружения в АА.
Просвечивающий электронный микроскоп
Просвечивающий электронный микроскоп
Назначение:
Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Рамановский спектрометр
Рамановский спектрометр
Назначение:
Оборудование для исследования и анализа методом оптической спектроскопии
Рентгеновский микроанализатор состава
Рентгеновский микроанализатор состава
Назначение:
Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах.
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов
Назначение:
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL Optim’X
Рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL Optim’X
Назначение:
Предназначен для анализа до 84 элементов периодической таблицы в различных пробах: твердых или жидких, проводящих или непроводящих. Широкий диапазон задач: от мониторинга нескольких элементов в маслах, полимерах, цементе или горных породах до полного анализа стекла, металлов, руды, огнеупоров и геологических материалов может решаться приборами данной серии. Преимуществами XRF анализа перед другими методами являются скорость, простая подготовка проб, хорошая стабильность и воспроизводимость анализов, а также широкий динамический диапазон измерений (от уровней ррм до 100%).
Сканирующий электронный микроскоп
Сканирующий электронный микроскоп
Назначение:
Топографический и качественный фазовый анализ поверхностей металлических и полупроводниковых материалов, а также полуколичественный элементный анализ. Типы изображения: вторичные и первичные (упругоотраженные) электроны, характеристическое рентгеновское излучение
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой, атомно-эмиссионный iCAP 6300 Radial View (Thermo Scientific)
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой, атомно-эмиссионный iCAP 6300 Radial View (Thermo Scientific)
Назначение:
Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее
Стереомикроскоп
Стереомикроскоп
Назначение:
Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060.
Микроскоп Olympys IX81
Микроскоп Olympys IX81
Назначение:
Позволяет использовать следующие методы обзора: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, флуоресценция, ДИК ( дифференциальный интерференционный контраст ) Номарского. Микроскоп предназначен для решения наукоемких задач, требующих нестандартных подходов и применения новейших достижений в оптической и электронно-механической индустрии.
Установка измерения сопротивления растекания
Установка измерения сопротивления растекания
Назначение:
Предназначена для определения электрических неоднородностей с разрешением 8-9 мкм. Диапазон измерения сопротивлений 10-4 -103 Ом.см.
Установка искрового плазменного спекания DR.SINTER Lab
Установка искрового плазменного спекания DR.SINTER Lab
Назначение:
Приборы для обработки поверхности материалов
Установка исследования наноструктур
Установка исследования наноструктур
Установка Jetlab II
Установка Jetlab II
Назначение:
Системы для формирования конечных материалов
Фотоэлектронный и Оже-спектрометр
Фотоэлектронный и Оже-спектрометр
Назначение:
Определение состава и химического состояния элементов в поверхностных слоях с разрешением по глубине 0.5-2.0 нм и по поверхности 0.5 мкм
Все оборудование