Назад к списку
Диагностика и модификация микроструктур и нанообъектов
Контакты
124498, г. Зеленоград, пл. Шокина, д. 1
+7 (499) 720 87 65 доб. 2965

ЦКП использует следующие методы исследования: просвечивающая (ПЭМ) и растровая (РЭМ) электронная микроскопия, фокусированный ионный пучок, оптическая микроскопия.

Оборудование

Оптический микроскоп INM 100
Оптический микроскоп INM 100
Оптический микроскоп INM 100
Оптический микроскоп INM 100
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области оптической микроскопии.
Просвечивающий электронный микроскоп
Просвечивающий электронный микроскоп
Просвечивающий электронный микроскоп
Просвечивающий электронный микроскоп
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области просвечивающей электронной микроскопии.
Система с фокусированным ионным пучком FEI FIB 200 в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Система с фокусированным ионным пучком FEI FIB 200 в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Система с фокусированным ионным пучком FEI FIB 200 в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Система с фокусированным ионным пучком FEI FIB 200 в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Установка вскрытия пластиковых корпусов интегральных микросхем в состава Программно-аппаратного комплекса для лаборатории СБИС
Установка вскрытия пластиковых корпусов интегральных микросхем в состава Программно-аппаратного комплекса для лаборатории СБИС
Установка вскрытия пластиковых корпусов интегральных микросхем в состава Программно-аппаратного комплекса для лаборатории СБИС
Установка вскрытия пластиковых корпусов интегральных микросхем в состава Программно-аппаратного комплекса для лаборатории СБИС
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии.
Установка реактивного ионного травления в составе программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС Model RIE-1C (Samco)
Установка реактивного ионного травления в составе программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС Model RIE-1C (Samco)
Установка реактивного ионного травления в составе программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС Model RIE-1C (Samco)
Установка реактивного ионного травления в составе программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС Model RIE-1C (Samco)
Назначение:
Оборудование и установки для травления
Электронно-ионный растровый микроскоп Helios NanoLab 650 (FEI)
Электронно-ионный растровый микроскоп Helios NanoLab 650 (FEI)
Электронно-ионный растровый микроскоп Helios NanoLab 650 (FEI)
Электронно-ионный растровый микроскоп Helios NanoLab 650 (FEI)
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области растровой электронно-ионной микроскопии.
Электронный растровый микроскоп XL 40 (Philips) в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Электронный растровый микроскоп XL 40 (Philips) в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Электронный растровый микроскоп XL 40 (Philips) в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Электронный растровый микроскоп XL 40 (Philips) в составе Программно-аппаратного комплекса для лаборатории анализа СБИС
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии