Назад к списку
Аналитический центр научного центра волоконной оптики РАН
Контакты
119333, г. Москва, ул. Вавилова, д. 38
+7 (499) 503 83 09

Основной деятельностью Аналитического центра НЦВО РАН является диагностика и исследование свойств различных классов объектов и материалов для волоконной оптики, фотоники, микро- и наноэлектроники с использованием сочетания методов рентгеновской дифракции  и электронной микроскопии.

Оборудование

Аналитическая система микроанализа AZtecEnergy (Oxford)
Аналитическая система микроанализа AZtecEnergy (Oxford)
Аналитическая система микроанализа AZtecEnergy (Oxford)
Аналитическая система микроанализа AZtecEnergy (Oxford)
Назначение:
Безазотная система энергодисперсионного микроанализа в комплекте с Automated AZtecEnergy Package
Дифрактометр общего назначения ДРОН-4-13 (Буревесник)
Дифрактометр общего назначения ДРОН-4-13 (Буревесник)
Дифрактометр общего назначения ДРОН-4-13 (Буревесник)
Дифрактометр общего назначения ДРОН-4-13 (Буревесник)
Назначение:
Предназначен для количественного и качественного рентгенофазового анализа
Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker)
Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker)
Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker)
Дифрактометр рентгеновский порошковый D2 PHASER (Bruker)
Назначение:
Дифрактометр для количественного и качественного рентгенофазового анализа и расшифровки структур методом Ритвельда
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker)
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker)
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker)
Рентгеновский дифрактометр D8 DISCOVER (Bruker)
Назначение:
Дифрактометр рентгеновский для микроанализа.
Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (JEOL)
Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (JEOL)
Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (JEOL)
Сканирующий электронный микроскоп JSM-5910LV (JEOL)
Назначение:
Сканирующий (растровый) электронный микроскоп предназначен для исследования микро- и наноструктуры поверхности различных образцов. Оснащение приставками для ЭДС, ВДС и ДОРЭ позволяет проводить анализ элементов от бора до урана, изучать структуру и текстуру кристаллов.