Аналитический центр изучения природного вещества при комплексном освоении недр
Контакты
111020, г. Москва, Крюковский тупик, д. 4
+7 (495) 360 13 39

Центр осуществляет научную и научно-техническую деятельность в соответствии с единым планом НИР Института и планами работы Центра. Область научной деятельности центра — горное недроведение и технологическая минералогия.
Основные направления работы центра: обеспечение экспериментально-аналитической базы ИПКОН РАН для выполнения научно-исследовательских работ по  формированию эффективной системы недропользования при добыче и переработке твердых полезных ископаемых; разработка новых способов и методик комплексного и экспрессного анализов минерального сырья; работа по решению фундаментальных научных проблем согласно плану НИР. Основные  задачи центра: коллективное использование  высокотехно­логичных научных приборов и оборудования для повышения уровня фундаментальных и прикладных иссле­дований; определение вещественного состава, физико-химических свойств и структуры геоматериалов.

Оборудование

Атомно-абсорбционный спектрофотометр АА-7000 (Shimadzu)
Атомно-абсорбционный спектрофотометр АА-7000 (Shimadzu)
Атомно-абсорбционный спектрофотометр АА-7000 (Shimadzu)
Атомно-абсорбционный спектрофотометр АА-7000 (Shimadzu)
Назначение:
Элементный анализ геоматериалов
Дифрактометр рентгеновский порошковый XRD-7000 (Shimadzu)
Дифрактометр рентгеновский порошковый XRD-7000 (Shimadzu)
Дифрактометр рентгеновский порошковый XRD-7000 (Shimadzu)
Дифрактометр рентгеновский порошковый XRD-7000 (Shimadzu)
Назначение:
Фазовый анализ геоматериалов
ИК-Фурье спектрометр с приставками IRAffinty-1 (Shimadzu)
ИК-Фурье спектрометр с приставками IRAffinty-1 (Shimadzu)
ИК-Фурье спектрометр с приставками IRAffinty-1 (Shimadzu)
ИК-Фурье спектрометр с приставками IRAffinty-1 (Shimadzu)
Назначение:
Анализ молекулярной структуры
Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп VK 9700 (Keyence)
Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп VK 9700 (Keyence)
Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп VK 9700 (Keyence)
Конфокальный лазерный сканирующий микроскоп VK 9700 (Keyence)
Назначение:
Изучение наноразмерных частиц, профилометрия, 3Dизображения
Микроскоп прямой промышленный ВХ 51 (Olympus Corporation)
Микроскоп прямой промышленный ВХ 51 (Olympus Corporation)
Микроскоп прямой промышленный ВХ 51 (Olympus Corporation)
Микроскоп прямой промышленный ВХ 51 (Olympus Corporation)
Назначение:
Оптическая микроскопия
Прибор синхронного термического анализа STA 449 F3 Jupiter (Netzsch) Марка:  STA 449 F3
Прибор синхронного термического анализа STA 449 F3 Jupiter (Netzsch) Марка: STA 449 F3
Прибор синхронного термического анализа STA 449 F3 Jupiter (Netzsch) Марка:  STA 449 F3
Прибор синхронного термического анализа STA 449 F3 Jupiter (Netzsch) Марка: STA 449 F3
Назначение:
Изучение термической стабильности, определение температуры фазовых переходов, контроль качества материалов
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Advant’X Intellipower (ARL)
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Advant’X Intellipower (ARL)
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Advant’X Intellipower (ARL)
Рентгенофлуоресцентный спектрометр Advant’X Intellipower (ARL)
Назначение:
Элементный анализ геоматериалов
Сканирующий электронный микроскоп LEO 1420 VP JSM-6610LV (JEOL)
Сканирующий электронный микроскоп LEO 1420 VP JSM-6610LV (JEOL)
Сканирующий электронный микроскоп LEO 1420 VP JSM-6610LV (JEOL)
Сканирующий электронный микроскоп LEO 1420 VP JSM-6610LV (JEOL)
Назначение:
Растровая электронная микроскопия (РЭМ)
Лабораторная системамикроволновойпробоподготовки
Лабораторная системамикроволновойпробоподготовки
Лабораторная системамикроволновойпробоподготовки
Лабораторная системамикроволновойпробоподготовки
Назначение:
Ускоренноеразложения проб неорганической и органической
Микроанализатор
Микроанализатор
Микроанализатор
Микроанализатор
Назначение:
Элементный анализ объектов РЭМ
Тринокулярныйстериомикроскоп
Тринокулярныйстериомикроскоп
Назначение:
Оптическая микроскопия
Двухлучевой сканирующий спектрофотометр
Двухлучевой сканирующий спектрофотометр
Назначение:
Измерение концентрациифлотореагентов в растворах
Атомно-силовой микроскоп
Атомно-силовой микроскоп
Назначение:
Анализ свойств поверхности
Все оборудование