Учебно-научное объединение «Электроника»
Контакты
119454, г. Москва, пр-т Вернадского, д. 78
+7 (495) 434 76 65

ЦКП позволяет реализовать научно-методическое и приборное обеспечение научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ по формированию и исследованию функциональных наноматериалов для устройств микро-, оптоэлектроники и фотоники, проводить комплексные исследования их структуры и основных функциональных характеристик методами электронной, атомно-силовой, оптической и нелинейно-оптической сканирующей микроскопии, методами генерации второй оптической гармоники, оптической спектроскопии отражения/пропускания, однофотонной и двухфотонной люминесценции в широком диапазоне температур, а также методами спектроскопии временного разрешения и терагерцовой спектроскопии.

Оборудование

Комплексный стенд для исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники
Комплексный стенд для исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники
Комплексный стенд для исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники
Комплексный стенд для исследования параметров и характеристик приборов сверхвысокочастотной электроники
Назначение:
Предназначен для измерения электропроводности и диэлектрической проницаемости нанокомпозитных материалов, нанослоев и нанопокрытий на постоянном токе и в переменных полях.
Криостат оптический азотно-гелиевый с блоком термостабилизации optCRYO105
Криостат оптический азотно-гелиевый с блоком термостабилизации optCRYO105
Криостат оптический азотно-гелиевый с блоком термостабилизации optCRYO105
Криостат оптический азотно-гелиевый с блоком термостабилизации optCRYO105
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области термической физики
Научный комплекс «Нелинейно-оптические свойства материалов»
Научный комплекс «Нелинейно-оптические свойства материалов»
Научный комплекс «Нелинейно-оптические свойства материалов»
Научный комплекс «Нелинейно-оптические свойства материалов»
Назначение:
Исследование свойств поверхностей и объемных материалов методом генерации второй оптической гармоники. Картирование распределения нелинейно-оптических свойств по поверхности материала.
Научный комплекс «Рентгеноструктурный анализ»
Научный комплекс «Рентгеноструктурный анализ»
Научный комплекс «Рентгеноструктурный анализ»
Научный комплекс «Рентгеноструктурный анализ»
Назначение:
Исследования структуры твердотельных материалов методом дифракции рентгеновских лучей.
Научный комплекс «Электронная микроскопия»
Научный комплекс «Электронная микроскопия»
Научный комплекс «Электронная микроскопия»
Научный комплекс «Электронная микроскопия»
Назначение:
Исследование топографии поверхности и структуры. Модификация поверхности методом травления фокусированным ионным пучком. Изготовление упорядоченных двумерных структур (фотонных кристаллов).
Оптическая спектроскопия коэффициентов отражения и пропускания
Оптическая спектроскопия коэффициентов отражения и пропускания
Оптическая спектроскопия коэффициентов отражения и пропускания
Оптическая спектроскопия коэффициентов отражения и пропускания
Назначение:
Исследование спектральных свойств функциональных и оптических материалов.
Оптическая спектроскопия магнито-оптического эффекта Керра
Оптическая спектроскопия магнито-оптического эффекта Керра
Оптическая спектроскопия магнито-оптического эффекта Керра
Оптическая спектроскопия магнито-оптического эффекта Керра
Назначение:
Оборудование для оптической спектроскопии.
Система оптической микроскопии ближнего поля Alpha 300s  (WITec)
Система оптической микроскопии ближнего поля Alpha 300s (WITec)
Система оптической микроскопии ближнего поля Alpha 300s  (WITec)
Система оптической микроскопии ближнего поля Alpha 300s (WITec)
Назначение:
Исследование свойств материалов методом сканирующейоптической микроскопии
Технологический комплекс «Вакуумное напыление»
Технологический комплекс «Вакуумное напыление»
Технологический комплекс «Вакуумное напыление»
Технологический комплекс «Вакуумное напыление»
Назначение:
Напыление тонких металлических слоев (электродов) методом вакуумного напыления.
Установка ВЧ-распыления
Установка ВЧ-распыления
Установка ВЧ-распыления
Установка ВЧ-распыления
Назначение:
Изготовление тонких пленок сегнетоэлектриков методом высокочастотного распыления керамических мишеней.
Фемтосекундная лазерная перестраиваемая система
Фемтосекундная лазерная перестраиваемая система
Фемтосекундная лазерная перестраиваемая система
Фемтосекундная лазерная перестраиваемая система
Назначение:
Исследования нелинейно-оптических свойств материалов методом генерации второй оптической гармоники. Исследования методом терагерцовой спектроскопии.
Монохроматор Shamrock 500i
Монохроматор Shamrock 500i
Монохроматор Shamrock 500i
Монохроматор Shamrock 500i
Назначение:
Оптический прибор для выделения узких интервалов длин волн из спектра оптического электромагнитного излучения
Высокочувствительная камера ORCA-flash 4.0
Высокочувствительная камера ORCA-flash 4.0
Высокочувствительная камера ORCA-flash 4.0
Высокочувствительная камера ORCA-flash 4.0
Назначение:
Анализ оптического сигнала
Синхронный широкополосный перестраиваемый генератор фемтосекундных импульсов
Синхронный широкополосный перестраиваемый генератор фемтосекундных импульсов
Синхронный широкополосный перестраиваемый генератор фемтосекундных импульсов
Синхронный широкополосный перестраиваемый генератор фемтосекундных импульсов
Назначение:
Усиление оптического сигнала
Литограф e_LiNE plus system
Литограф e_LiNE plus system
Литограф e_LiNE plus system
Литограф e_LiNE plus system
Назначение:
Установка для электронно-лучевой литографии
Анализатор спектра сигналов СВЧ-диапазона
Анализатор спектра сигналов СВЧ-диапазона
Анализатор спектра сигналов СВЧ-диапазона
Анализатор спектра сигналов СВЧ-диапазона
Назначение:
Исследование спектральных характеристик сигналов СВЧ-диапазона