Учебно-научное объединение «Электроника»
Контакты
119454, г. Москва, пр-т Вернадского, д. 78
+7 (495) 434 76 65

ЦКП позволяет реализовать научно-методическое и приборное обеспечение научно-исследовательских, опытно-конструкторских и технологических работ по формированию и исследованию функциональных наноматериалов для устройств микро-, оптоэлектроники и фотоники, проводить комплексные исследования их структуры и основных функциональных характеристик методами электронной, атомно-силовой, оптической и нелинейно-оптической сканирующей микроскопии, методами генерации второй оптической гармоники, оптической спектроскопии отражения/пропускания, однофотонной и двухфотонной люминесценции в широком диапазоне температур, а также методами спектроскопии временного разрешения и терагерцовой спектроскопии.

Услуги

Компьютерное моделирование свойств наноматериалов
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследование свойств наноматериалов методом нелинейно-оптической микроскопии
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследование свойств наноматериалов методом сканирующей оптической микроскопии
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Рентгеноструктурный анализ
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследования структуры материалов методом электронной микроскопии
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Характеризация элементов и устройств СВЧ-электроники
Приоритетное направление:
Информационно-телекоммуникационные системы
Исследование люминесцентных свойств материалов
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследование материалов методом генерации второй оптической гармоники
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследование спектральных свойств наноструктурированных материалов
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследование кинетики релаксации фотовозбужденных процессов в функциональных (нано)материалах
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Терагерцовая спектроскопия
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Индустрия наносистем
Исследование параметров и характеристик элементов радиофотоники
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Информационно-телекоммуникационные системы