Структурная диагностика материалов ФНИЦ «Кристаллография и фотоника» РАН
Контакты
119333, г. Москва, Ленинский пр-т, д. 59
+7 (499) 135 61 20

ЦКП  специализируется на структурной диагностике широкого класса материалов, разрабатывает новые методы и экспериментальные методики. Центр выполняет заказы сторонних организаций по исследованию структуры различных материалов, ведет самостоятельные фундаментальные и прикладные исследования. ЦКП имеет опыт и выполняет заказы сторонних организаций на проведение работ на оборудовании Центра на договорной основе. Одним из важнейших аспектов деятельности Центра является метрологическое обеспечение имеющегося оборудования. Все приборы Центра ежегодно проходят калибровку и поверку.

Услуги

Исследование методами оптической абсорбционной спектроскопии оптических характеристик, структуры и состава конденсированных материалов, в том – числе параметров монокристаллов и изделий на их основе
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследования методами просвечивающей и растровой электронной микроскопии атомной структуры, морфологии и химического состава широкого класса материалов, значимых для различных областей фундаментальной и прикладной науки, включая полупроводниковое материаловедение, катализ, минералогию и биологию
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Оперативный бесконтактный контроль атомарных поверхностей методами атомно-силовой микроскопии
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Структурные исследования методами рентгеновской дифрактометрии белков, неорганических материалов, порошков
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследование методами оптической микроскопии 3D объектов и их деталей с разрешением до 350 нм
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Рентгенотопографические исследования реальной структуры кристаллов
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Быстрое построение карт распределения элементов в образце методом энергодисперсионного анализа на просвечивающем электронном микроскопе, в том числе с высоким разрешением
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Рентгенофлуоресцентные исследования поверхности, приповерхностных слоев, многослойных систем и тонких пленок, в том числе, методом стоячих рентгеновских волн
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Рентгеновская томография биологических объектов
Приоритетное направление:
Науки о жизни
Электронно-дифракционное («на просвет» и «на отражение») исследование и анализ атомной структуры и микроструктуры, а также качества поверхности различных материалов, включая аморфные материалы
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Изготовление наноразмерных изделий методом резки ионным пучком в растровом электронном микроскопе с ионным пучком, а также «сварка» объектов (в т.ч. наноразмерных систем), создание электрических контактов между наноразмерными материалами различной природы
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследование спектральных характеристик в диапазоне 190-3300 нм и примесного состава кристаллов, растворов органических и неорганических соединений, полиэлектролитных микро- и нанокапсул
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Получение изображения отдельных срезов по высоте цельного объекта с последующим восстановлением трехмерного изображения структуры объектов субмикронного размера методом конфокальной микроскопии
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Электронографический структурный анализ отдельных нанокристаллов методом «полого конуса»
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Измерение массы различных микрообъектов и тонких пленок с разрешением до микрограммов
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Измерение диэлектрических характеристик, исследование ионной и протонной проводимости и других физико-химических свойств кристаллов при высоких температурах и в различных газовых атмосферах
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследования тепловых характеристик и фазовых переходов, изменения массы материалов в различных газовых атмосферах и вакууме, а также измерения теплоемкости
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследования качественного и количественного состава различных жидких и твердых материалов методом масс-спектрометрии и лазерного пробоотбора
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Проведение экспресс-анализа порошков и тонких пленок методом рентгеновской дифракции
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Приготовление образцов для просвечивающей электронной микроскопии с использованием двулучевого растрового электронного микроскопа
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Измерение локальных электрических характеристик (потенциала, пространственной вариации емкости поверхности, электростатических сил, тока, электромеханического отклика) методами атомно-силовой микроскопии
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем