Функциональный контроль и диагностика микро- и наносистемной техники
Контакты
124498, г. Москва, г. Зеленоград, пл. Шокина, д. 1, стр. 7
+7 (499) 740 90 11

ЦКП обеспечивает проведение научно-исследовательских и опытно-конструкторских работ, исследований и экспериментов на научном, измерительном и испытательном оборудовании ЦКП в интересах НПК «Технологический центр», научных и образовательных учреждений, промышленных предприятий и организаций по техническим заданиям, типовым программам и методикам.

Услуги

Измерение электрических параметров и контроль функционирования полузаказных микросхем
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму; Информационно-телекоммуникационные системы
Измерение электрических параметров и контроль функционирования полузаказных микросхем при крайних значениях температур (-80 С;+120 С).
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму; Информационно-телекоммуникационные системы
Испытание микросхем на устойчивость к электрическим и климатическим нагрузкам (электротермотренировка).
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму; Информационно-телекоммуникационные системы
Измерение электрофизических параметров МДП-структур на основе измерения высокочастотных (ВЧ) вольт-фарадных характеристик (ВФХ) с помощью ртутного зонда (Параметры: напряжение плоских зон, ёмкость плоских зон, ёмкость диэлектрика, пороговое напряжение, эффективный заряд в диэлектрике, термополевая стабильность).
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму; Индустрия наносистем; Информационно-телекоммуникационные системы
Испытание микросхем на воздействие повышенной и пониженной температуры среды (термоциклирование).
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму; Информационно-телекоммуникационные системы
Измерение электрических параметров тестовых элементов микросхем в составе пластины
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Информационно-телекоммуникационные системы
Измерение амплитудно-частотных характеристик микромеханических элементов в МЭМС и НЭМС
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Индустрия наносистем
Информационно-телекоммуникационные системы
Измерение линейных размеров микромеханических элементов в МЭМС и НЭМС
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Информационно-телекоммуникационные системы
Исследования электрофизических и электрохимических свойств поверхности методами сканирующей зондовой микроскопии
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Индустрия наносистем
Измерение магнитных характеристик тонкопленочных магнитнорезистивных наноструктур и магнитострикионных материалов в составе пластин
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Индустрия наносистем
Информационно-телекоммуникационные системы
Испытания микросхем на воздействие линейного ускорения до 30000 g
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Индустрия наносистем
Информационно-телекоммуникационные системы
Испытание микросхем на вибропрочность
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Индустрия наносистем
Информационно-телекоммуникационные системы
Испытание микросхем на воздействие повышенной влажности воздуха (длительное и ускоренное).
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Индустрия наносистем
Информационно-телекоммуникационные системы
Измерение характеристик пленок c помощью автоматической эллипсометрической измерительной системы SENDURO
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Индустрия наносистем
Информационно-телекоммуникационные системы
Контроль параметров полупроводниковых пластин с помощью ИК Фурье-спектрометра
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Индустрия наносистем
Информационно-телекоммуникационные системы
Испытание микросхем на воздействие одиночных ударов
Приоритетное направление:
Безопасность и противодействие терроризму
Информационно-телекоммуникационные системы