Нанотехнология, наноматериалы, наноструктуры
Контакты
125009, г. Москва, ул. Моховая, д. 11, корп. 7
+7 (495) 629 33 68

Нанотехнологический аналитический ЦКП «Нанотехнология, наноматериалы, наноструктуры» создан на базе Отдела физических основ наноэлектроники ИРЭ им. В.А. Котельникова РАН и двух базовых кафедр МФТИ: твердотельной электроники и радиофизики и прикладных информационных технологий. Направления научных исследований: разработка и исследование наноструктурированных материалов и сред; разработка и исследование устройств молекулярной электроники; разработка технологии создания атомных поверхностных структур и исследование их физических свойств с атомным разрешением для создания устройств электроники следующего поколения; разработка и исследование углеродных наноматериалов и электронных устройств на их основе; разработка и исследование электронных наноструктур для создания на их основе различных сенсоров, в том числе химических и биологических датчиков; разработка и исследование магнитных наноструктур для устройств спинтроники и хранения информации со сверхплотной записью; разработка ионисторных накопителей энергии с высокой удельной энергоемкостью на основе новых высокопористых углеродных наноматериалов; разработка и исследование метаматериалов для создания устройств обработки информации.

Оборудование

Векторный анализатор цепей MS4644A (Anritsu)
Векторный анализатор цепей MS4644A (Anritsu)
Векторный анализатор цепей MS4644A (Anritsu)
Векторный анализатор цепей MS4644A (Anritsu)
Назначение:
Приборы радиоизмерительные для частотных и фазовых измерений
Высоковакуумная  универсальная установка магнетронного напыления многослойных тонкопленчных микроструктур (Kurt)
Высоковакуумная универсальная установка магнетронного напыления многослойных тонкопленчных микроструктур (Kurt)
Высоковакуумная  универсальная установка магнетронного напыления многослойных тонкопленчных микроструктур (Kurt)
Высоковакуумная универсальная установка магнетронного напыления многослойных тонкопленчных микроструктур (Kurt)
Назначение:
Нанесение покрытий в вакууме методом магнетронного распыления
Зондовый микроскоп Multiprobe LT UHV STM (Omicron)
Зондовый микроскоп Multiprobe LT UHV STM (Omicron)
Зондовый микроскоп Multiprobe LT UHV STM (Omicron)
Зондовый микроскоп Multiprobe LT UHV STM (Omicron)
Назначение:
В состав установки входят АСМ и СТМ, обеспечивающие атомарное пространственное разрешение. Установка оснащена камерой предварительной подготовки и напыления образцов, ионной пушкой, гелиевой продувкой и нагревателями для поддержания температуры образца в интервале 30-1000К.
Инфракрасный Фурье спектрометр VERTEX 80v (Bruker)
Инфракрасный Фурье спектрометр VERTEX 80v (Bruker)
Инфракрасный Фурье спектрометр VERTEX 80v (Bruker)
Инфракрасный Фурье спектрометр VERTEX 80v (Bruker)
Назначение:
ИК спектроскопия. Приборы включают инновационную оптическую систему на базе интерферометра UltraScan™ с функцией автоматической динамической настройки, который позволяет достигать разрешения <0.06 см-1.
Оборудование для спектроскопии в оптическом диапазоне длин волн — базовый оптический криостат Janis CCS-150
Оборудование для спектроскопии в оптическом диапазоне длин волн — базовый оптический криостат Janis CCS-150
Оборудование для спектроскопии в оптическом диапазоне длин волн — базовый оптический криостат Janis CCS-150
Оборудование для спектроскопии в оптическом диапазоне длин волн — базовый оптический криостат Janis CCS-150
Назначение:
Исследование оптических и других физических свойств твердотельных образцов при низких температурах.
Сверхвысоковакуумный низкотемпературный зондововый микроскоп с опцией Qplus sensor
Сверхвысоковакуумный низкотемпературный зондововый микроскоп с опцией Qplus sensor
Сверхвысоковакуумный низкотемпературный зондововый микроскоп с опцией Qplus sensor
Сверхвысоковакуумный низкотемпературный зондововый микроскоп с опцией Qplus sensor
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области атомно-силовой микроскопии.
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI-300
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI-300
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI-300
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп GPI-300
Назначение:
Сверхвысоковакуумный сканирующий туннельный микроскоп, позволяющий получать атомно-разрешенные изображения проводящей поверхности при комнатной температуре образца.
Система микротравления ионным пучком SMI3050 в компл. (SII)
Система микротравления ионным пучком SMI3050 в компл. (SII)
Система микротравления ионным пучком SMI3050 в компл. (SII)
Система микротравления ионным пучком SMI3050 в компл. (SII)
Назначение:
Оборудование и установки для травления ионным пучком.
Система управления Elphy Plus (Raith) к электронному микроскопу Zeiss 1540 Elphy Pl
Система управления Elphy Plus (Raith) к электронному микроскопу Zeiss 1540 Elphy Pl
Система управления Elphy Plus (Raith) к электронному микроскопу Zeiss 1540 Elphy Pl
Система управления Elphy Plus (Raith) к электронному микроскопу Zeiss 1540 Elphy Pl
Назначение:
Электронно-литографическая приставка высокого класса для растрового электронно-лучевого микроскопа, оборудованного термоавтоэмиссионным катодом, либо для ионно-лучевого микроскопа, или рабочей станции FIB-SEM.
Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 H
Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 H
Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 H
Сканирующий зондовый микроскоп Solver P47 H
Назначение:
Сканирующий зондовый микроскоп SOLVER NEXT разработка компании НТ-МДТ, открывающая новую линию сканирующих зондовых микроскопов, предназначенных для широкого круга исследований.
Сканирующий электронный микроскоп в комплекте с принадлежностями JSM-6460 (Boeku)
Сканирующий электронный микроскоп в комплекте с принадлежностями JSM-6460 (Boeku)
Сканирующий электронный микроскоп в комплекте с принадлежностями JSM-6460 (Boeku)
Сканирующий электронный микроскоп в комплекте с принадлежностями JSM-6460 (Boeku)
Назначение:
Количественный морфологический анализ и измерение линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур, элементный анализ от В до U с чувствительностью порядка 0,1 %, исследование спектров микрокатодолюминесцнции в диапазоне 300-900 нм с пространственным разрешением порядка 1 мкм в диапазоне температур 78 -300 К. Исследование дифракции обратно-рассеянных электронов для определения кристаллической структуры изучаемых объектов с локальностью несколько микрометров.
Установка для анализа спектра SpectraPro 2500i (Princeton)
Установка для анализа спектра SpectraPro 2500i (Princeton)
Установка для анализа спектра SpectraPro 2500i (Princeton)
Установка для анализа спектра SpectraPro 2500i (Princeton)
Назначение:
Спектроскопические исследования с помощью монохроматора.
Фотодетекторы ближнего ИК диапазона и дальнего ИК (терагерцового) дипазона для ИК Фурье-спектрометра Vertex 80v BB (Bruker)
Фотодетекторы ближнего ИК диапазона и дальнего ИК (терагерцового) дипазона для ИК Фурье-спектрометра Vertex 80v BB (Bruker)
Фотодетекторы ближнего ИК диапазона и дальнего ИК (терагерцового) дипазона для ИК Фурье-спектрометра Vertex 80v BB (Bruker)
Фотодетекторы ближнего ИК диапазона и дальнего ИК (терагерцового) дипазона для ИК Фурье-спектрометра Vertex 80v BB (Bruker)
Назначение:
Спектроскопические измерения
Электронный микроскоп Zeiss 1540 EsB (Carl)
Электронный микроскоп Zeiss 1540 EsB (Carl)
Электронный микроскоп Zeiss 1540 EsB (Carl)
Электронный микроскоп Zeiss 1540 EsB (Carl)
Назначение:
Сканирующий электронный микроскоп, разрешение 1.5 нм с фокусированным ионным пучком
Электронный микроскоп с системой электронной литографии eLine FBMS_ELPHY (RAIS)
Электронный микроскоп с системой электронной литографии eLine FBMS_ELPHY (RAIS)
Электронный микроскоп с системой электронной литографии eLine FBMS_ELPHY (RAIS)
Электронный микроскоп с системой электронной литографии eLine FBMS_ELPHY (RAIS)
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области электронно-ионной литографии
Анализатор цепей с опциями E5061B
Анализатор цепей с опциями E5061B
Анализатор цепей с опциями E5061B
Анализатор цепей с опциями E5061B
Магнетрон постоянного тока VSE-SPUT-3
Магнетрон постоянного тока VSE-SPUT-3
Магнетрон постоянного тока VSE-SPUT-3
Магнетрон постоянного тока VSE-SPUT-3
Малогабаритная установка нанесения металлических покрытий VSE-PVD-DESK-PRO
Малогабаритная установка нанесения металлических покрытий VSE-PVD-DESK-PRO
Малогабаритная установка нанесения металлических покрытий VSE-PVD-DESK-PRO
Малогабаритная установка нанесения металлических покрытий VSE-PVD-DESK-PRO