Испытательный аналитико-сертификационный центр Гиредмета
Контакты
119017, г. Москва, Б. Толмачевский пер., д. 5, стр. 1
+7 (495) 953 87 91

ЦКП-ИАСЦ Гиредмета создан на базе подразделений института Гиредмет с целью эффективного использования интеллектуального потенциала и уникального экспериментального оборудования, проведения научно-исследовательских работ, как фундаментального, так и прикладного характера в области материаловедения и металлургии, обеспечения подготовки квалифицированных специалистов, научных и научно-педагогических кадров высшей квалификации. ЦКП располагает уникальным комплексом современного аналитического оборудования, предназначенного для диагностики (исследования) состава, строения и свойств материалов (в т.ч. наноматериалов) на основе редких, цветных, благородных металлов, высокочистых веществ и полупроводниковых материалов.

Оборудование

Лабораторный анализатор кислорода, водорода, азота
Лабораторный анализатор кислорода, водорода, азота
Лабораторный анализатор кислорода, водорода, азота
Лабораторный анализатор кислорода, водорода, азота
Назначение:
Предназначен для анализа содержания кислорода, азота и водорода в металлах, сплавах и других неорганических материалах
Анализатор серы и углерода в металлах
Анализатор серы и углерода в металлах
Анализатор серы и углерода в металлах
Анализатор серы и углерода в металлах
Назначение:
Оборудование для исследования состава, строения веществ и материалов прочее
Анализатор энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный
Анализатор энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный
Анализатор энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный
Анализатор энергодисперсионный рентгенофлуоресцентный
Назначение:
Определение массовой концентрации химических элементов
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого разрешения с источником сплошного спектра
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого разрешения с источником сплошного спектра
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого разрешения с источником сплошного спектра
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого разрешения с источником сплошного спектра
Назначение:
Обеспечивает прямой анализ твёрдых проб без предварительной пробоподготовки. Спектрометр использующий источник света сплошного спектра. Прибор позволяет определять элементы от Na до U за один аналитический цикл.
Атомно-абсорбционный спектрофотометр
Атомно-абсорбционный спектрофотометр
Атомно-абсорбционный спектрофотометр
Атомно-абсорбционный спектрофотометр
Назначение:
Атомно-абсорбционный спектрометр высокого класса для пламенного и электротермического атомно-абсорбционного анализа. Позволяет проводить анализ любых экологических, промышленных, пищевых, биологических и фармацевтических объектов, промвыбросов на содержание ультра-следов металлов и металлоидов.
Атомно-силовой и туннельный микроскоп
Атомно-силовой и туннельный микроскоп
Атомно-силовой и туннельный микроскоп
Атомно-силовой и туннельный микроскоп
Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр
Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр
Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр
Двухлучевой атомно-абсорбционный спектрофотометр
Назначение:
Экспрессное определение цветных, редких и драгоценных металлов в сырье, полупродуктах, соединениях и сплавах
Инвертированный моторизованный флуоресцентный микроскоп исследовательского класса
Инвертированный моторизованный флуоресцентный микроскоп исследовательского класса
Инвертированный моторизованный флуоресцентный микроскоп исследовательского класса
Инвертированный моторизованный флуоресцентный микроскоп исследовательского класса
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области инвертированной микроскопии
Комплекс лабораторного пробоподготовительного оборудования
Комплекс лабораторного пробоподготовительного оборудования
Комплекс лабораторного пробоподготовительного оборудования
Комплекс лабораторного пробоподготовительного оборудования
Малогабаритный спектрометр Колибри-2
Малогабаритный спектрометр Колибри-2
Малогабаритный спектрометр Колибри-2
Малогабаритный спектрометр Колибри-2
Назначение:
180 - 900 нм или 185 - 760 нмКоррекция фона Quadline (усиленная дейтериевая) корректирует 2 ед. абс. с погрешностью менее 2%. Частота модуляции - 200 Гц. Применение: Двухлучевая схема Стокдейла позволяет получить самые лучшие пределы обнаружения в АА.
Масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией в тлеющем разряде
Масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией в тлеющем разряде
Масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией в тлеющем разряде
Масс-спектрометр высокого разрешения с ионизацией в тлеющем разряде
Назначение:
Масс-спектрометры для элементного анализа
Искровой масс-спектрометр с двойной фокусировкой JMS 010B (JEOL)
Искровой масс-спектрометр с двойной фокусировкой JMS 010B (JEOL)
Искровой масс-спектрометр с двойной фокусировкой JMS 010B (JEOL)
Искровой масс-спектрометр с двойной фокусировкой JMS 010B (JEOL)
Назначение:
Масс-спектрометры для изотопного анализа
Лабораторный масс-спектрометрический комплекс
Лабораторный масс-спектрометрический комплекс
Лабораторный масс-спектрометрический комплекс
Лабораторный масс-спектрометрический комплекс
Назначение:
Предназначен для элементного анализа
Микроденситометр автоматический
Микроденситометр автоматический
Микроденситометр автоматический
Микроденситометр автоматический
Назначение:
Оборудование для исследования и анализа структуры и состава поверхности
Комплекс атомно-эмиссионного спектрального анализа с анализатором МАЭС
Комплекс атомно-эмиссионного спектрального анализа с анализатором МАЭС
Комплекс атомно-эмиссионного спектрального анализа с анализатором МАЭС
Комплекс атомно-эмиссионного спектрального анализа с анализатором МАЭС
Назначение:
Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее
Оптические микроскопы
Оптические микроскопы
Оптические микроскопы
Оптические микроскопы
Назначение:
Предназначен для проведения общенаучных экспериментов в области сканирующей микроскопии
Оптический Фурье- спектрометр
Оптический Фурье- спектрометр
Оптический Фурье- спектрометр
Оптический Фурье- спектрометр
Назначение:
ИК-Фурье спектрометр предназначен для проведения анализов в ИК области спектра для оценки подлинности органических и неорганических соединений, анализ состава смесей.
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой JY-38
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой JY-38
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой JY-38
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой JY-38
Назначение:
Предназначен для проведения количественного элементного анализа. Возможно определение более 70-ти элементов в широком диапазоне концентраций (от n.10-4% до n 10%) в различных образцах. Области применения: Стали и чугуны, Сплавы на основе: Al, Mg, Cu, Zn, Ni, Co, Ti, Zr, Mo, W, Ta, Nb, Cr, V, Mn, Ag, Au, Pd, Pt, Sc, Р.З.М, и др.
Приставка для прямого анализа твердых проб без микровесов
Приставка для прямого анализа твердых проб без микровесов
Приставка для прямого анализа твердых проб без микровесов
Приставка для прямого анализа твердых проб без микровесов
Назначение:
180 - 900 нм или 185 - 760 нмКоррекция фона Quadline (усиленная дейтериевая) корректирует 2 ед. абс. с погрешностью менее 2%. Частота модуляции - 200 Гц. Применение: Двухлучевая схема Стокдейла позволяет получить самые лучшие пределы обнаружения в АА.
Просвечивающий электронный микроскоп
Просвечивающий электронный микроскоп
Просвечивающий электронный микроскоп
Просвечивающий электронный микроскоп
Назначение:
Технические характеристики:Исследовательский класс. Качественная оптика объектива и высокое качество светового потока обеспечивают точное воспроизведение изображения. Методы исследования: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, дифференциально-интерференционный контраст (ДИК), варел-контраст, поляризация, люминесценция.
Рамановский спектрометр
Рамановский спектрометр
Рамановский спектрометр
Рамановский спектрометр
Назначение:
Оборудование для исследования и анализа методом оптической спектроскопии
Рентгеновский микроанализатор состава
Рентгеновский микроанализатор состава
Рентгеновский микроанализатор состава
Рентгеновский микроанализатор состава
Назначение:
Анализатор предназначен для определения содержания химических элементов от Na до U в твердых, порошкообразных и жидких пробах.
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр с построением изображения для фундаментальных и прикладных исследований полупроводниковых материалов
Назначение:
Исследования химического состава поверхностей твердых тел
Рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL Optim’X
Рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL Optim’X
Рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL Optim’X
Рентгенофлуоресцентный спектрометр ARL Optim’X
Назначение:
Предназначен для анализа до 84 элементов периодической таблицы в различных пробах: твердых или жидких, проводящих или непроводящих. Широкий диапазон задач: от мониторинга нескольких элементов в маслах, полимерах, цементе или горных породах до полного анализа стекла, металлов, руды, огнеупоров и геологических материалов может решаться приборами данной серии. Преимуществами XRF анализа перед другими методами являются скорость, простая подготовка проб, хорошая стабильность и воспроизводимость анализов, а также широкий динамический диапазон измерений (от уровней ррм до 100%).
Сканирующий электронный микроскоп
Сканирующий электронный микроскоп
Сканирующий электронный микроскоп
Сканирующий электронный микроскоп
Назначение:
Топографический и качественный фазовый анализ поверхностей металлических и полупроводниковых материалов, а также полуколичественный элементный анализ. Типы изображения: вторичные и первичные (упругоотраженные) электроны, характеристическое рентгеновское излучение
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой, атомно-эмиссионный iCAP 6300 Radial View (Thermo Scientific)
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой, атомно-эмиссионный iCAP 6300 Radial View (Thermo Scientific)
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой, атомно-эмиссионный iCAP 6300 Radial View (Thermo Scientific)
Атомно-эмиссионный спектрометр с индуктивно-связанной плазмой, атомно-эмиссионный iCAP 6300 Radial View (Thermo Scientific)
Назначение:
Оборудование для исследований химического и элементного состава веществ и материалов прочее
Стереомикроскоп
Стереомикроскоп
Стереомикроскоп
Стереомикроскоп
Назначение:
Предназначен для наблюдения прямого объемного изображения объектов при плавном изменении увеличения мелких объектов и выполнения разнообразных тонких работ, например препарирование в биологии. Визуализация изображения при помощи фотокамеры Olympus 5060.
Микроскоп Olympys IX81
Микроскоп Olympys IX81
Микроскоп Olympys IX81
Микроскоп Olympys IX81
Назначение:
Позволяет использовать следующие методы обзора: светлое поле, темное поле, фазовый контраст, поляризованный свет, флуоресценция, ДИК ( дифференциальный интерференционный контраст ) Номарского. Микроскоп предназначен для решения наукоемких задач, требующих нестандартных подходов и применения новейших достижений в оптической и электронно-механической индустрии.
Установка измерения сопротивления растекания
Установка измерения сопротивления растекания
Установка измерения сопротивления растекания
Установка измерения сопротивления растекания
Назначение:
Предназначена для определения электрических неоднородностей с разрешением 8-9 мкм. Диапазон измерения сопротивлений 10-4 -103 Ом.см.
Установка искрового плазменного спекания DR.SINTER Lab
Установка искрового плазменного спекания DR.SINTER Lab
Установка искрового плазменного спекания DR.SINTER Lab
Установка искрового плазменного спекания DR.SINTER Lab
Назначение:
Приборы для обработки поверхности материалов
Установка исследования наноструктур
Установка исследования наноструктур
Установка исследования наноструктур
Установка исследования наноструктур
Установка Jetlab II
Установка Jetlab II
Установка Jetlab II
Установка Jetlab II
Назначение:
Системы для формирования конечных материалов
Фотоэлектронный и Оже-спектрометр
Фотоэлектронный и Оже-спектрометр
Фотоэлектронный и Оже-спектрометр
Фотоэлектронный и Оже-спектрометр
Назначение:
Определение состава и химического состояния элементов в поверхностных слоях с разрешением по глубине 0.5-2.0 нм и по поверхности 0.5 мкм