Центр по применению нанотехнологий в энергетике и электроснабжении космических систем
Контакты
125438, г. Москва, ул. Онежская, д. 8
+7 (495) 456 87 55

Центр коллективного пользования Роскосмоса обеспечивает доступ к исследовательскому и технологическому оборудованию организациям Роскосмоса и организациям других отраслей, выполняющих разработки в сфере наноиндустрии в рамках различных профильных целевых программ.

Оборудование

Автоматический газовый пикнометр Ultrapycnometer 1200e
Автоматический газовый пикнометр Ultrapycnometer 1200e
Автоматический газовый пикнометр Ultrapycnometer 1200e
Автоматический газовый пикнометр Ultrapycnometer 1200e
Назначение:
Автоматический газовый пикнометр Ultrapycnometer 1200e для определения истинной плотности всевозможных порошкообразных и пористых твердых образцов.
Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension
Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension
Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension
Атомно-силовой микроскоп Veeco Dimension
Назначение:
Методы микроскопии, доступные с имеющимся набором модулей: -атомно-силовая (АСМ), поперечно-силовая, магнито-силовая (МСМ), емкостная, туннельная (СТМ), микроскопия сопротивления растекания, туннельная атомно-силовая, проводящая атомно-силовая; -область сканирования, мкм: 90; -максимальный размер образца, мм: 150; максимальная толщина образца, мм: 12; максимально-допустимый перепад высот образца, мкм: 7.
Быстродействующий анализатор удельной поверхности и размеров пор NOVA 1000e, основывающийся на измерениях сорбции газов (BET-метод)
Быстродействующий анализатор удельной поверхности и размеров пор NOVA 1000e, основывающийся на измерениях сорбции газов (BET-метод)
Быстродействующий анализатор удельной поверхности и размеров пор NOVA 1000e, основывающийся на измерениях сорбции газов (BET-метод)
Быстродействующий анализатор удельной поверхности и размеров пор NOVA 1000e, основывающийся на измерениях сорбции газов (BET-метод)
Назначение:
Автоматический анализатор удельной поверхности и размера пор NOVA разработан для определения пористости и удельной площади поверхности различных веществ.
Высокотемпературная установка испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб в широком температурном диапазоне
Высокотемпературная установка испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб в широком температурном диапазоне
Высокотемпературная установка испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб в широком температурном диапазоне
Высокотемпературная установка испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб в широком температурном диапазоне
Назначение:
Высокотемпературная испытательная установка для определения механических свойств материалов предназначена для проведения механических испытаний материалов на растяжение, сжатие и изгиб в температурном диапазоне от комнатной температуры до 2000°С.
Высокотемпературный дилатометр NETZSCH DIL 402 E7_G-Py
Высокотемпературный дилатометр NETZSCH DIL 402 E7_G-Py
Высокотемпературный дилатометр NETZSCH DIL 402 E7_G-Py
Высокотемпературный дилатометр NETZSCH DIL 402 E7_G-Py
Назначение:
Термический Анализ (ДТА) - хорошо известный метод для характеристики энтальпий и температур превращений (экзо- и эндотермические эффекты).
Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss)
Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss)
Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss)
Инвертированный металлографический микроскоп отраженного света Axiovert 40 MAT (Carl Zeiss)
Назначение:
Отличается большой функциональностью и отвечает новейшим требованиям современного уровня материаловедческих исследований. Используется для исследования и контроля качества материалов.
Комплекс пробоподготовки Buehler
Комплекс пробоподготовки Buehler
Комплекс пробоподготовки Buehler
Комплекс пробоподготовки Buehler
Назначение:
Пробоподготовка – это комплекс определённых действий над объектом анализа для подготовки пробы к последующему анализу того или иного вида.
Лазерный анализатор частиц Zetasizer Nano (Malvern)
Лазерный анализатор частиц Zetasizer Nano (Malvern)
Лазерный анализатор частиц Zetasizer Nano (Malvern)
Лазерный анализатор частиц Zetasizer Nano (Malvern)
Назначение:
Позволяет определять размер, дзета-потенциал и молекулярный вес частиц или молекул, помещенных в жидкую среду. Рабочий диапазон определения размеров частиц: от 0.6 нм до 6 мкм.
Лазерный анализатор элементного состава веществ и материалов LEA-S500
Лазерный анализатор элементного состава веществ и материалов LEA-S500
Лазерный анализатор элементного состава веществ и материалов LEA-S500
Лазерный анализатор элементного состава веществ и материалов LEA-S500
Назначение:
Предназначен для определения химического состава металлов, сплавов, стёкол, керамик, пластмасс, прессованных порошков, комбинированных и композитных материалов, полезных ископаемых и других веществ и материалов. Анализатор обеспечивает измерение массовой доли (концентрации) химических элементов и их соединений (окислов) в анализируемой пробе и позволяет проводить анализ пробы в заданных точках (областях) поверхности, выбираемых с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения. Анализатор применяется для качественного, полуколичественного и количественного анализа элементного состава сырья, компонентов, добавок, примесей, включений и т. д. на всех стадиях производства, а также для контроля готовых изделий.слов) в анализируемой пробе и позволяет проводить анализ пробы в заданных точках (областях) поверхности, выбираемых с помощью систем позиционирования и видеонаблюдения.
Лазерный фазовый интерференционный микроскоп МИМ-2.1 (Амфора)
Лазерный фазовый интерференционный микроскоп МИМ-2.1 (Амфора)
Лазерный фазовый интерференционный микроскоп МИМ-2.1 (Амфора)
Лазерный фазовый интерференционный микроскоп МИМ-2.1 (Амфора)
Назначение:
Представляет собой лазерный фазовый интерференционный микроскоп дальнего поля с различными режимами модуляции для комплексного изучения микрообъектов. Он предназначен для измерения трехмерного микрорельефа поверхности с субмикронным разрешением и определения оптической плотности прозрачных микроструктур.
Многоцелевой рентгеновский дифрактометр Empyrean PANalytical
Многоцелевой рентгеновский дифрактометр Empyrean PANalytical
Многоцелевой рентгеновский дифрактометр Empyrean PANalytical
Многоцелевой рентгеновский дифрактометр Empyrean PANalytical
Назначение:
Рентгеновский дифрактометр с вертикально расположенным гониометром высокого разрешения модульной конструкции для научных исследований и для аналитического контроля в промышленности .
Модуляционный интерференционный микроскоп  MИM-2.1
Модуляционный интерференционный микроскоп MИM-2.1
Модуляционный интерференционный микроскоп  MИM-2.1
Модуляционный интерференционный микроскоп MИM-2.1
Назначение:
- Разрешение по вертикали (Z) в стандартных условиях, нм: 0,4; - разрешение по вертикали (Z) при использовании активной виброзащиты, нм: 0,1; - латеральное разрешение (X, Y), нм: 15-80 (в зависимости от объекта); - оптическое увеличение микроскопа, крат: 1130; - поле зрения с объективом 100х/0,95, мкм : 14,6; - шаг дискретизации в плоскости, нм: 7; - шаг дискретизации по вертикали, нм: 0,01; - максимальная глубина изучаемого рельефа, нм: 260-800 (в зависимости от объекта); - размер растра, точек: от 1x1 до 1024x1024; - скорость съемки, точек/с: 500; - время съемки кадра 128x128 точек, с: 33; - время съемки кадра 1024x1024 точки, мин: 35; - максимальная частота динамических процессов, Гц: 500; - длина волны лазерного излучения, нм: 532; - мощность лазерного излучения, мВт: 40; - тип поляризации: эллиптическая; - степень поляризации: 200:1; - диапазон изменения угла поляризации, °: 0-360; - шаг изменение угла поляризации, °: 3,6±0,1; - максимальный размер образца, мм: 70; - максимальная
Нанотехнологический комплекс 'Умка-02-L' (Наноиндустрия)
Нанотехнологический комплекс 'Умка-02-L' (Наноиндустрия)
Нанотехнологический комплекс 'Умка-02-L' (Наноиндустрия)
Нанотехнологический комплекс 'Умка-02-L' (Наноиндустрия)
Назначение:
Представляет собой сканирующий туннельный микроскоп и предназначен для исследования поверхностей объектов с высоким разрешением вплоть до атомарного.Поле сканирования, мкм: 5x5; - разрешение в плоскости образца, нм, не хуже: 0,02; - разрешение по вертикали, нм, не хуже: 0,01; - ток сканирования, пА: 20...5000; - напряжение на зазоре, В: - 0,01...2,5; - размер образца, мм: 8x8x0,5; - время сканирования кадра с атомарным - разрешением (3x3 нм), с, не более:2; - время сканирования полного кадра (7x7 нм), мин, не более: 4; - время выхода на рабочий режим, мин, не более: 10.
Оже-спектрометр PHI 700
Оже-спектрометр PHI 700
Оже-спектрометр PHI 700
Оже-спектрометр PHI 700
Назначение:
Является новейшей, высокоэффективной системой предназначенной для анализа и предоставления информации об элементном составе поверхности образца, субмикронных элементах, тонких пленках и интерфейсах. Электронная оптика прибора на полевой эмиссии обладает пространственным разрешением менее 8 нм, что позволяет в короткие сроки получать изображения высокого разрешения субмикронных элементов во вторичных электронах и выбрать область анализа. Оже-спектрометр способен определить любые элементы в приповерхностных слоях образца, кроме H и He. Наличие ионной пушки дает возможность предварительной очистки образцов, исследования непроводящих поверхностей и профилирования по глубине. PHI 700 позволяет проводить элементный анализ сложных образцов, таких, как: • полупроводниковые устройства: поверхностные дефекты или частицы, загрязнения, тонкие пленки и анализ отказов; • металлы: покрытия, композиты, анализ границ зерен (включая разлом в вакууме), коррозия и другие дефекты.
Перестраиваемая лазерная система Opotek Vibrant LD 355 II
Перестраиваемая лазерная система Opotek Vibrant LD 355 II
Перестраиваемая лазерная система Opotek Vibrant LD 355 II
Перестраиваемая лазерная система Opotek Vibrant LD 355 II
Назначение:
Диапазон длины волны, нм: 210-2400; пиковая энергия, мДж: 25; длительность импульса, нс: 5; частота следования импульсов, Гц: 10; ширина спектральной линии, см-1: 4-7; - длина волны лазера накачки, нм: 355 нм.
Рамановский спектрометр Horiba T64000
Рамановский спектрометр Horiba T64000
Рамановский спектрометр Horiba T64000
Рамановский спектрометр Horiba T64000
Назначение:
Рамановская спектроскопия является одним из наиболее мощных аналитических методов, применяемых при исcледовании и разработке новых материалов: композитных, полупроводниковых, сверхпроводниковых, наноструктурных. Рамановский микроскоп позволяет наблюдать самые тонкие молекулярные эффекты непосредственно, визуально, соотнося изображение оптического или электронного микроскопа с двумерной или трехмерной картой, построенной по линиям в спектре КР.
Растровый электронный микроскоп Quanta 600 FEG (FEI)
Растровый электронный микроскоп Quanta 600 FEG (FEI)
Растровый электронный микроскоп Quanta 600 FEG (FEI)
Растровый электронный микроскоп Quanta 600 FEG (FEI)
Назначение:
Микроскоп позволяет получать изображения различных объектов с увеличением, превышающим 100 000 крат. Он предназначен для выполнения различных исследований с минимальными затратами времени на препарирование объектов, обеспечивая их наблюдение с исключительной глубиной резкости. FEI Quanta 600 FEG позволяют работать с разнообразными типами образцов (в том числе непроводящими, загрязненными, влажными образцами и образцами, способными к газовыделению при вакуумировании).
Рентгеновский спектрометр PANalytical Axiosmax
Рентгеновский спектрометр PANalytical Axiosmax
Рентгеновский спектрометр PANalytical Axiosmax
Рентгеновский спектрометр PANalytical Axiosmax
Назначение:
Рентгеновский спектрометр PANalytical AxiosmAX с дисперсией по длине волны последовательного типа для высокоточного анализа химического состава проб от Be до U.
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI Quntera XPS
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI Quntera XPS
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI Quntera XPS
Рентгеновский фотоэлектронный спектрометр PHI Quntera XPS
Назначение:
Обеспечивает высокую чувствительность и необходимый инструментарий для применения РФС метода практически ко всему спектру существующих образцов, а также в анализе отказов. Среди его возможностей − высокопроизводительная спектроскопия микрообласти по всем элементам кроме H и He, профилирование ионной пушкой, картрирование, автоматизированный анализ диэлектриков и др. Минимальная область сканирования 9 мкм. Полная автоматизация системы упрощает эксплуатацию и повышает воспроизводимость результатов измерений. Большой размер столика образцов позволяет анализировать действительно крупные образцы из "реального мира" автоматически или сразу несколько мелких образцов.
Сверхзвуковая аэродинамическая труба БМР
Сверхзвуковая аэродинамическая труба БМР
Сверхзвуковая аэродинамическая труба БМР
Сверхзвуковая аэродинамическая труба БМР
Назначение:
Предназначена для определения аэродинамических характеристик воздухозаборников межконтинентальных крылатых ракет типа «Буря», РН типа «Протон», «Энергия» «Буран», «Ангара» с «Байкалом» с работающими двигателями, Венерианских и Марсианских посадочных модулей.Основные характеристики трубы: — давление набегающего потока воздуха (до Ро = 20 Mпа); — число Маха набегающего потока до М=6; — число Рейнольдса Re = 0.4…7·106; — объём ваккумных баллонов V=2400 м3 создаваемый вакуум до 3…4 Торр; — диаметр рабочей части трубы до 400 мм.
Спектрофотометр Varian – Cary 5000
Спектрофотометр Varian – Cary 5000
Спектрофотометр Varian – Cary 5000
Спектрофотометр Varian – Cary 5000
Назначение:
Оптический диапазон, нм: 175 – 3300; - максимальная скорость сканирования, нм/мин: до 2000 — УФ-видимый, до 8000 — ближний ИК. - время интегрирования сигнала, с: от 0.033 до 999; - частота сбора кинетических данных, точек/мин: 1800; - нерегистрирующая скорость сканирования в видимом и УФ диапазонах, нм/мин: до 16000; нерегистрирующая скорость сканирования в видимом и в ближнем ИК диапазоне, нм/мин: до 64000.
Стереоскопический микроскоп Nikon SMZ 1500
Стереоскопический микроскоп Nikon SMZ 1500
Стереоскопический микроскоп Nikon SMZ 1500
Стереоскопический микроскоп Nikon SMZ 1500
Назначение:
- Оптическая система: параллельно-оптическая система увеличения; - общее увеличение: 5.6x - 506x (с коаксиальным осветителем отраженного света); - угол наклона окуляров: 20°; - регулирование межзрачкового расстояния: 48 - 75 мм.
Термоанализатор NETZSCH STA 449 F1 Jupiter QMS 403 Aëolos
Термоанализатор NETZSCH STA 449 F1 Jupiter QMS 403 Aëolos
Термоанализатор NETZSCH STA 449 F1 Jupiter QMS 403 Aëolos
Термоанализатор NETZSCH STA 449 F1 Jupiter QMS 403 Aëolos
Назначение:
СТА (синхронный термический анализ) сочетает методы дифференциальной сканирующей калориметрии и термогравиметрии в одном измерении. С помощью СТА проводятся измерения потоков теплоты и измерения массы при полностью идентичных условиях. Области применения STA 449 F1 Jupiter® – пластики, каучуки, резины, волокна, покрытия, масла, керамика, стекла, цемент, огнеупоры, металлы, топливо, лекарства, пищевые продукты и т.п.
Ультразвуковая установка МУЗА для измерения модуля Юнга и внутреннего трения материала в широком диапазоне температур
Ультразвуковая установка МУЗА для измерения модуля Юнга и внутреннего трения материала в широком диапазоне температур
Ультразвуковая установка МУЗА для измерения модуля Юнга и внутреннего трения материала в широком диапазоне температур
Ультразвуковая установка МУЗА для измерения модуля Юнга и внутреннего трения материала в широком диапазоне температур
Назначение:
Установка ультразвуковой диагностики даёт возможность измерить и исследовать температурную зависимость модуля Юнга и внутреннего трения материала в диапазоне температур от 20 до 2500 °С.