Исследовательско-технологический комплекс синхротронная станция "Ленгмюр"
Контакты
123182, г. Москва, пл. Академика Курчатова, д. 1
+7 (499) 196 71 10

Синхротронная станция "Ленгмюр" является многофункциональной экспериментальной установкой, не имеющей аналогов в РФ, на которой возможна реализация широкого круга спектра дифракционных, поверхностно-чувствительных и спектрально-селективных рентгеновских методик (рентгено-флуоресцентный анализ, метод стоячих рентгеновских волн, рефлектометрия, малоугловое рассеяние, двумерная поверхностная дифракция) в том числе и на поверхности жидкости.

Услуги

Проведены исследования степени совершенства поверхности и элементного состава серии пластин LiNeO3 и TeO2. Методом рентгеновской рефлектометрии определено значение среднеквадратичной шероховатости поверхности. Методом рентгенофлуоресцентного анализа определен элементный состав образцов.
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследование структурной чувствительности выхода флуоресценции от планарных систем в условиях многоволновой дифракции. Исследования структурного совершенства наноразмерных пленок высокоиндексного диэлектрика. Исследования ex-situ структурных перестроек в многослойных органических планарных наносистемах.
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Проведены исследования на степени совершенства поверхности кремниевых пластин методами рентгеновской рефлектометрии. Определены значения среднеквадратичной шероховатости.
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Проведены исследования химических и структурных свойств границ раздела в бислойных эпитаксиальных структурах Fe/BaTiO3.
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Проведено исследования эффективности осаждения белка цитохрома C из раствора в фосфатном буфере на липидные пленки - монослои смеси DMPC и кардиолипина, перенесенные на кремниевые подложки.
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Проведены исследования образцов тонкопленочных структур Ge-3d металл.
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Исследования планарных многослойных структур [(Co45Fe45Zr10)x(Al2O3)(1-x) /a-SiH]m с применением методов рентгеновской рефлектометрии и стоячих рентгеновских волн.
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем