Нанотехнологии и наноматериалы
Контакты
111250, г. Москва, ул. Красноказарменная, д.14
+7 (917) 533 40 56

На уникальном оборудовании проводятся работы по созданию и исследованию катодной массы литий-ионных источников тока, радиопоглащающих материалов, электропроводящей керамики, повышению энергоэффективности трубопроводных систем путем нанесения нанопокрытий, определению количественного состава водорода в тонких пленках.

Оборудование

Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI)
Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI)
Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI)
Аналитический комплекс на базе просвечивающего электронного микроскопа Tecnai G2 20 TWIN (FEI)
Назначение:
Предназначен для исследования структуры и химического состава образцов на атомарном уровне (паспортное разрешение до 1,6 ангстрема, фактическое – на уровне 2 ангстрема). Микроскоп оснащен приставкой для проведения энергодисперсионного рентгеновского анализа (диапазон фиксируемых элементов от В до U), разрешение по энергии не более 138 эВ, обеспечивает построение двумерных карт распределения элементов, распределения элементов вдоль линии и элементный анализ в точке. Приставка режима сканирования обеспечивает
Бисерная мельница для получения дисперсий наночастиц LabStar LS1 (Netzsch)
Бисерная мельница для получения дисперсий наночастиц LabStar LS1 (Netzsch)
Бисерная мельница для получения дисперсий наночастиц LabStar LS1 (Netzsch)
Бисерная мельница для получения дисперсий наночастиц LabStar LS1 (Netzsch)
Назначение:
Бисерная мельница предназначена для измельчения твердых материалов с возможностью получения дисперсий с частицами размером от 30 нм имеет: замкнутый непрерывный цикл измельчения; усовершенствованную систему фильтрации бисера от дисперсии; узкое распределение частиц дисперсии по размерам; высокую скорость вращения основного вала (до 4000 об/мин); высокую энергия измельчения в жидкости
Высоковакуумный аналитический комплекс на базе электронного микрозонда Нанофаб-25 (НТ-МДТ)
Высоковакуумный аналитический комплекс на базе электронного микрозонда Нанофаб-25 (НТ-МДТ)
Высоковакуумный аналитический комплекс на базе электронного микрозонда Нанофаб-25 (НТ-МДТ)
Высоковакуумный аналитический комплекс на базе электронного микрозонда Нанофаб-25 (НТ-МДТ)
Назначение:
Уникальный научный комплекс, объединяющий устройства для вакуумного плазмохимического модифицирования поверхности и мощного аналитического оборудования для анализа поверхности методами электронной спектроскопии
Лабораторный комплекс для изучения процессов деформации и текучести Kinexus Pro (Malvern)
Лабораторный комплекс для изучения процессов деформации и текучести Kinexus Pro (Malvern)
Лабораторный комплекс для изучения процессов деформации и текучести Kinexus Pro (Malvern)
Лабораторный комплекс для изучения процессов деформации и текучести Kinexus Pro (Malvern)
Назначение:
Комплекс позволяет проводить исследование реологических свойств наноструктурированных материалов.
Сканирующий зондовый микроскоп и нано-твердометр Нано Скан 3D (ТИСНУМ)
Сканирующий зондовый микроскоп и нано-твердометр Нано Скан 3D (ТИСНУМ)
Сканирующий зондовый микроскоп и нано-твердометр Нано Скан 3D (ТИСНУМ)
Сканирующий зондовый микроскоп и нано-твердометр Нано Скан 3D (ТИСНУМ)
Назначение:
Оборудование предназначено для проведения исследований на субмикронном уровне механических свойств, модуля упругости и структуры многофазных материалов сверхтвердых материалов. Обеспечивает контактный динамический режим сканирования с применением пьезорезонансного зонда с высокой изгибной жесткостью консоли, получение изображения профиля поверхности и карты модуля упругости с использованием датчиков обратной связи. Максимальный размер области сканирования 100х100х10 мкм, разрешение при сканировании 0,15 нм
Скретч-тестер с микро и нано модулями
Скретч-тестер с микро и нано модулями
Скретч-тестер с микро и нано модулями
Скретч-тестер с микро и нано модулями
Назначение:
Нано- микросклерометр предназначен для определения механических свойств (адгезия, деформация, образование трещин) методом контролируемого царапанья образца (микро- и нанопленок, защитных покрытий) с помощью алмазного индентора. Прибор представляет настольную модель с открытой платформой, включающую модуль трения и наноскрэтч модуль. Прибор обеспечивает возможность изучать системы пленка-подложка с получением количественных характеристик (фрикционное сопротивление и сила адгезии) с полным программным управле
Спектрометр динамического светорассеяния Zetasizer Nano ZS (Malvern)
Спектрометр динамического светорассеяния Zetasizer Nano ZS (Malvern)
Спектрометр динамического светорассеяния Zetasizer Nano ZS (Malvern)
Спектрометр динамического светорассеяния Zetasizer Nano ZS (Malvern)
Назначение:
Оборудование предназначено для определения: – размера частиц в диапазоне от 0.3 нм до 10 мкм методом динамического рассеяния света с использованием технологии NIBS (неинвазивного обратного рассеяния); – дзета-потенциала в водных и безводных дисперсных системах методом электрофоретического рассеяния света с использованием технологии M3-PALS; – абсолютной молекулярной массы методом статического рассеяния света.
Установка для шарового шлифования Calotest Industrial (CSM-Instruments)
Установка для шарового шлифования Calotest Industrial (CSM-Instruments)
Установка для шарового шлифования Calotest Industrial (CSM-Instruments)
Установка для шарового шлифования Calotest Industrial (CSM-Instruments)
Назначение:
Установка предназначена для определения толщины (глубины) и структуры моно- и многослойных покрытий любого типа методом шарового истирания, обеспечивает измерение толщины от 100 нм до 50 мкм. Специальная конструкция шарнира с измерительной головкой позволяет проводить измерения in-situ, время измерений не превышает 1 – 2 минут. Оснащена отдельным микроскопом, цветной видеокамерой и программным обеспечением для анализа изображения.