Диагностика и модификация микроструктур и нанообъектов
Контакты
124498, г. Зеленоград, пл. Шокина, д. 1
+7 (499) 720 87 65 доб. 2965

ЦКП использует следующие методы исследования: просвечивающая (ПЭМ) и растровая (РЭМ) электронная микроскопия, фокусированный ионный пучок, оптическая микроскопия.

Услуги

Анализ структуры и измерение геометрических размеров СБИС методами просвечивающей микроскопии
Приоритетное направление:
Информационно-телекоммуникационные системы
Анализ структуры и измерение геометрических размеров размеров СБИС методами растровой микроскопии
Приоритетное направление:
Информационно-телекоммуникационные системы
Анализ структуры СБИС
Приоритетное направление:
Информационно-телекоммуникационные системы
Анализ структуры и измерение геометрических размеров размеров микро и нанообъектов методами растровой микроскопии
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем