Нанодиагностика и метрологическое обеспечение наукоемких технологий
Контакты
119421, г. Москва, ул. Новаторов, д. 40, корп. 1
+7 (495) 935 97 77

Тематика научных исследований ЦКП НИЦПВ: фундаментальные и прикладные проблемно-ориентированные исследования особенностей взаимодействия измерительных зондов, пучков заряженных частиц, рентгеновского и оптического излучений с наноструктурированными объектами; разработка и создание методов и средств обеспечения единства измерений в нанотехнологиях, стандартизированных методик измерений и калибровки (поверки), стандартных образцов состава, структуры, размера и свойств; исследования способов повышения достоверности и точности измерений в нанотехнологиях.

Услуги

Поверка A-line 32D и преобразователей акустической эмиссии
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Поверка растрового электронного микроскопа
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Поверка меры ширины и периода специальной
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Поверка микроскопа оптического
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Испытания в целях утверждения типа средств измерений "Микроскопы электронные растровые" JSM-6x10
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Испытания в целях утверждения типа средств измерений - преобразователь акустической эмиссии резонансный GT 200 UB
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Испытания в целях утверждения типа единичного экземпляра средств измерений - акустикоэмиссионная поверочная AP8004
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Испытания в целях утверждения типа средств измерений - преобразователь акустической эмиссии широкополосный с предварительным усилителем АЕШД
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем
Испытания для целей утверждения типа и поверка единичных экземпляров средств измерений - микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой JSPM 5400
Приоритетное направление:
Индустрия наносистем